ItalianoCIONI, MARCELLO
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CIONI, MARCELLO
Dipartimento di Ingegneria "Enzo Ferrari"
Pubblicazioni
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | |
|---|---|---|---|
| 1 | Effect of Trap-Filling Bias on the Extraction of the Time Constant of Drain Current Transients in AlGaN/GaN HEMTs | 2021 | Zagni, Nicolo; Cioni, Marcello; Chini, Alessandro |
| 2 | Electric Field and Self-Heating Effects on the Emission Time of Iron Traps in GaN HEMTs | 2021 | Cioni, Marcello; Zagni, Nicolo; Selmi, Luca; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico; Chini, Alessandro |
| 3 | Evaluation of VTH and RON Drifts during Switch-Mode Operation in Packaged SiC MOSFETs | 2021 | Cioni, Marcello; Bertacchini, Alessandro; Mucci, Alessandro; Zagni, Nicolò; Verzellesi, Giovanni; Pavan, Paolo; Chini, Alessandro |
| 4 | Experimental and numerical investigation of Poole-Frenkel effect on dynamic RON transients in C-doped p-GaN HEMTs | 2022 | Zagni, Nicolò; Cioni, Marcello; Iucolano, Ferdinando; Moschetti, Maurizio; Verzellesi, Giovanni; Chini, Alessandro |
| 5 | GaN-based power devices: Physics, reliability, and perspectives | 2021 | Meneghini, Matteo; De Santi, Carlo; Abid, Idriss; Buffolo, Matteo; Cioni, Marcello; Khadar, Riyaz Abdul; Nela, Luca; Zagni, Nicolò; Chini, Alessandro; Medjdoub, Farid; Meneghesso, Gaudenzio; Verzellesi, Giovanni; Zanoni, Enrico; Matioli, Elison |
| 6 | Impact of Soft- and Hard-Switching transitions on VTH and RON Drifts in packaged SiC MOSFETs | 2021 | Cioni, M.; Chini, A. |
| 7 | Investigation on VTH and RON Slow/Fast Drifts in SiC MOSFETs | 2021 | Cioni, M.; Bertacchini, A.; Mucci, A.; Verzellesi, G.; Pavan, P.; Chini, A. |
| 8 | Mechanisms Underlying the Bidirectional VT Shift After Negative-Bias Temperature Instability Stress in Carbon-Doped Fully Recessed AlGaN/GaN MIS-HEMTs | 2021 | Zagni, Nicolo; Cioni, Marcello; Chini, Alessandro; Iucolano, Ferdinando; Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo; Verzellesi, Giovanni |
| 9 | Partial Recovery of Dynamic RON Versus OFF-State Stress Voltage in p-GaN Gate AlGaN/GaN Power HEMTs | 2021 | Cioni, Marcello; Zagni, Nicolo; Iucolano, Ferdinando; Moschetti, Maurizio; Verzellesi, Giovanni; Chini, Alessandro |
| 10 | Role of carbon in dynamic effects and reliability of 0.15-um AlGaN/GaN HEMTs for RF power amplifiers | 2022 | De Santi, Carlo; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Rampazzo, Fabiana; Gao, Veronica Zhan; Sharma, Chandan; Chiocchetta, Francesca; Verzellesi, Giovanni; Chini, Alessandro; Cioni, Marcello; Zagni, Nicolò; Lanzieri, Claudio; Pantellini, Alessio; Peroni, Marco; Latessa, Luca |
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