Impact of Soft- and Hard-Switching transitions on VTH and RON Drifts in packaged SiC MOSFETs / Cioni, M.; Chini, A.. - (2021), pp. 351-354. (Intervento presentato al convegno 2021 IEEE 8th Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA) tenutosi a Redondo Beach, CA, USA nel 7-11 Nov. 2021) [10.1109/WiPDA49284.2021.9645124].
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