Effect of Trap-Filling Bias on the Extraction of the Time Constant of Drain Current Transients in AlGaN/GaN HEMTs / Zagni, Nicolo; Cioni, Marcello; Chini, Alessandro. - (2021), pp. 231-235. ((Intervento presentato al convegno 2021 IEEE 8th Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA) tenutosi a Redondo Beach, CA, USA nel 7-11 Nov. 2021 [10.1109/WiPDA49284.2021.9645115].

Effect of Trap-Filling Bias on the Extraction of the Time Constant of Drain Current Transients in AlGaN/GaN HEMTs

Zagni, Nicolo
;
Cioni, Marcello;Chini, Alessandro
2021

21-dic-2021
2021 IEEE 8th Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA)
Redondo Beach, CA, USA
7-11 Nov. 2021
231
235
Zagni, Nicolo; Cioni, Marcello; Chini, Alessandro
Effect of Trap-Filling Bias on the Extraction of the Time Constant of Drain Current Transients in AlGaN/GaN HEMTs / Zagni, Nicolo; Cioni, Marcello; Chini, Alessandro. - (2021), pp. 231-235. ((Intervento presentato al convegno 2021 IEEE 8th Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA) tenutosi a Redondo Beach, CA, USA nel 7-11 Nov. 2021 [10.1109/WiPDA49284.2021.9645115].
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