EnglishEffect of Trap-Filling Bias on the Extraction of the Time Constant of Drain Current Transients in AlGaN/GaN HEMTs / Zagni, Nicolo; Cioni, Marcello; Chini, Alessandro. - (2021), pp. 231-235. ((Intervento presentato al convegno 2021 IEEE 8th Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA) tenutosi a Redondo Beach, CA, USA nel 7-11 Nov. 2021 [10.1109/WiPDA49284.2021.9645115].
| Data di pubblicazione: | 2021 | |
| Data di prima pubblicazione: | 21-dic-2021 | |
| Titolo: | Effect of Trap-Filling Bias on the Extraction of the Time Constant of Drain Current Transients in AlGaN/GaN HEMTs | |
| Autore/i: | Zagni, Nicolo; Cioni, Marcello; Chini, Alessandro | |
| Autore/i UNIMORE: | ||
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1109/WiPDA49284.2021.9645115 | |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-85123998065 | |
| Nome del convegno: | 2021 IEEE 8th Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA) | |
| Luogo del convegno: | Redondo Beach, CA, USA | |
| Data del convegno: | 7-11 Nov. 2021 | |
| Pagina iniziale: | 231 | |
| Pagina finale: | 235 | |
| Citazione: | Effect of Trap-Filling Bias on the Extraction of the Time Constant of Drain Current Transients in AlGaN/GaN HEMTs / Zagni, Nicolo; Cioni, Marcello; Chini, Alessandro. - (2021), pp. 231-235. ((Intervento presentato al convegno 2021 IEEE 8th Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA) tenutosi a Redondo Beach, CA, USA nel 7-11 Nov. 2021 [10.1109/WiPDA49284.2021.9645115]. | |
| Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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