Physical Modelling of Charge Trapping Effects / Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico; Zagni, Nicolo'; Cioni, Marcello; Chini, Alessandro; Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo; Verzellesi, Giovanni. - (2025), pp. 31-74. [10.1007/978-981-97-7506-4_2]

Physical Modelling of Charge Trapping Effects

Zanoni, Enrico;Zagni, Nicolo';Cioni, Marcello;Chini, Alessandro;Puglisi, Francesco Maria;Pavan, Paolo;Verzellesi, Giovanni
2025
2025
24-dic-2024
Modeling of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors
9789819775057
9789819775064
Physical Modelling of Charge Trapping Effects / Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico; Zagni, Nicolo'; Cioni, Marcello; Chini, Alessandro; Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo; Verzellesi, Giovanni. - (2025), pp. 31-74. [10.1007/978-981-97-7506-4_2]
Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico; Zagni, Nicolo'; Cioni, Marcello; Chini, Alessandro; Puglis...espandi
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