On-Wafer RONDegradation Analysis of 100 v p-GaN HEMTs Emulating Low-and High-Side Operation in Half Bridge Circuits / Modica, L.; Zagni, N.; Orlandini, D.; Cioni, M.; Cappellini, G.; Castagna, M. E.; Giorgino, G.; Iucolano, F.; Verzellesi, G.; Chini, A.. - (2024), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno 2024 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Europe (WiPDA Europe) tenutosi a Cardiff, UK nel 16-18 September 2024) [10.1109/WiPDAEurope62087.2024.10797220].
On-Wafer RONDegradation Analysis of 100 v p-GaN HEMTs Emulating Low-and High-Side Operation in Half Bridge Circuits
Modica L.;Zagni N.;Cioni M.;Giorgino G.;Verzellesi G.;Chini A.
2024
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