GIORGINO, GIOVANNI

GIORGINO, GIOVANNI  

Dipartimento di Ingegneria "Enzo Ferrari"  

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Alternative Measurement Approach for the Evaluation of Hot-Electron Degradation in p-GaN Gate AlGaN/GaN Power HEMTs 1-gen-2024 Cioni, M.; Giorgino, G.; Chini, A.; Parisi, A.; Cappellini, G.; Miccoli, C.; Castagna, M. E.; Tringali, C.; Iucolano, F.
GaN on Si Power and RF Devices and Application 1-gen-2023 Castagna, M. E.; Marchesi, M.; Miccoli, C.; Moschetti, M.; Giorgino, G.; Cioni, M.; Tringali, C.; Chini, A.; Iucolano, F.
Impact of Gate and Drain Leakage on VTHDrift and Dynamic-RONof 100V p-GaN Gate AlGaN/GaN HEMTs 1-gen-2023 Cioni, M.; Giorgino, G.; Chini, A.; Parisi, A.; Cappellini, G.; Modica, L.; Luongo, G.; Miccoli, C.; Castagna, M. E.; Moschetti, M.; Tringali, C.; Iucolano, F.
Impact of Process Variations on Back-Bias Effect in 100V p-GaN Gate AlGaN/GaN HEMTs 1-gen-2023 Cioni, M.; Giorgino, G.; Chini, A.; Marletta, G.; Miccoli, C.; Castagna, M. E.; Luongo, G.; Moschetti, M.; Tringali, C.; Iucolano, F.
Improved High Temperature Behaviour of On-Resistance in 100V p-GaN HEMTs 1-gen-2023 Giorgino, G.; Cioni, M.; Cappellini, G.; Iucolano, F.; Miccoli, C.; Castagna, M. E.; Moschetti, M.; Tringali, C.; Chini, A.
Modelling and Simulation of ON-Resistance Instability due to Gate Bias in p-GaN Power HEMTs 1-gen-2023 Zagni, N.; Chini, A.; Verzellesi, G.; Cioni, M.; Giorgino, G.; Nicotra, M. C.; Castagna, M. E.; Iucolano, F.
On the Dynamic RON, Vertical Leakage and Capacitance Behavior in pGaN HEMTs With Heavily Carbon-Doped Buffers 1-gen-2024 Cioni, Marcello; Chini, Alessandro; Zagni, Nicolo'; Verzellesi, Giovanni; Giorgino, Giovanni; Cappellini, Giacomo; Miccoli, Cristina; Toulon, Gaetan; Wakrim, Tariq; Eloisa Castagna, Maria; Constant, Aurore; Iucolano, Ferdinando
Study of 100V GaN power devices in dynamic condition and GaN RF device performances in sub-6GHz frequencies 1-gen-2023 Giorgino, G.; Cioni, M.; Miccoli, C.; Gervasi, L.; Giuffrida, M. F. S.; Ruvolo, M.; Castagna, M. E.; Cappellini, G.; Luongo, G.; Moschetti, M.; Constant, A.; Tringali, C.; Iucolano, F.; Chini, A.
Temperature Effect on RON-degradation induced by Off-state Drain Voltage Stress 1-gen-2023 Cioni, M.; Giorgino, G.; Cappellini, G.; Chini, A.; Miccoli, C.; Castagna, M. E.; Moschetti, M.; Tringali, C.; Iucolano, F.
Unveiling the Role of Hole Barrier Traps on ON-Resistance Instability after Gate Bias Stress in p-GaN Power HEMTs 1-gen-2023 Zagni, Nicolo'; Chini, Alessandro; Verzellesi, Giovanni; Cioni, Marcello; Giorgino, Giovanni; Nicotra, Maria Concetta; Eloisa Castagna, Maria; Iucolano, Ferdinando