Alternative Measurement Approach for the Evaluation of Hot-Electron Degradation in p-GaN Gate AlGaN/GaN Power HEMTs / Cioni, M.; Giorgino, G.; Chini, A.; Parisi, A.; Cappellini, G.; Miccoli, C.; Castagna, M. E.; Tringali, C.; Iucolano, F.. - In: ELECTRONIC MATERIALS. - ISSN 2673-3978. - 5:3(2024), pp. 132-144. [10.3390/electronicmat5030009]
Alternative Measurement Approach for the Evaluation of Hot-Electron Degradation in p-GaN Gate AlGaN/GaN Power HEMTs
Giorgino G.;Chini A.;
2024
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