MODICA, LORENZO
MODICA, LORENZO
Analysis of Dynamic-Ron and VTH shift in on-wafer 100-V p-GaN HEMTs Emulating Monolithically Integrated Half-Bridge Circuits
2025 Modica, Lorenzo; Zagni, Nicolo'; Cioni, Marcello; Cappellini, Giacomo; Castagna, Maria Eloisa; Giorgino, Giovanni; Iucolano, Ferdinando; Chini, Alessandro
Impact of Gate and Drain Leakage on VTHDrift and Dynamic-RONof 100V p-GaN Gate AlGaN/GaN HEMTs
2023 Cioni, M.; Giorgino, G.; Chini, A.; Parisi, A.; Cappellini, G.; Modica, L.; Luongo, G.; Miccoli, C.; Castagna, M. E.; Moschetti, M.; Tringali, C.; Iucolano, F.
Impact of OFF-State Stress on Dynamic RON of On-Wafer 100 V p-GaN HEMTs, Studied by Emulating Monolithically Integrated Half-Bridge Operation
2025 Modica, L.; Zagni, N.; Cioni, M.; Cappellini, G.; Giorgino, G.; Iucolano, F.; Verzellesi, G.; Chini, A.
On-Wafer RONDegradation Analysis of 100 v p-GaN HEMTs Emulating Low-and High-Side Operation in Half Bridge Circuits
2024 Modica, L.; Zagni, N.; Orlandini, D.; Cioni, M.; Cappellini, G.; Castagna, M. E.; Giorgino, G.; Iucolano, F.; Verzellesi, G.; Chini, A.
RON Degradation Mechanisms of ON-Wafer 100-V p-GaN HEMTs Emulating Monolithically Integrated Half-Bridge Circuits
2024 Zagni, Nicolo'; Modica, Lorenzo; Cioni, Marcello; Cappellini, Giacomo; Castagna, Maria Eloisa; Giorgino, Giovanni; Iucolano, Ferdinando; Verzellesi, Giovanni; Chini, Alessandro
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Analysis of Dynamic-Ron and VTH shift in on-wafer 100-V p-GaN HEMTs Emulating Monolithically Integrated Half-Bridge Circuits | 1-gen-2025 | Modica, Lorenzo; Zagni, Nicolo'; Cioni, Marcello; Cappellini, Giacomo; Castagna, Maria Eloisa; Giorgino, Giovanni; Iucolano, Ferdinando; Chini, Alessandro | |
| Impact of Gate and Drain Leakage on VTHDrift and Dynamic-RONof 100V p-GaN Gate AlGaN/GaN HEMTs | 1-gen-2023 | Cioni, M.; Giorgino, G.; Chini, A.; Parisi, A.; Cappellini, G.; Modica, L.; Luongo, G.; Miccoli, C.; Castagna, M. E.; Moschetti, M.; Tringali, C.; Iucolano, F. | |
| Impact of OFF-State Stress on Dynamic RON of On-Wafer 100 V p-GaN HEMTs, Studied by Emulating Monolithically Integrated Half-Bridge Operation | 1-gen-2025 | Modica, L.; Zagni, N.; Cioni, M.; Cappellini, G.; Giorgino, G.; Iucolano, F.; Verzellesi, G.; Chini, A. | |
| On-Wafer RONDegradation Analysis of 100 v p-GaN HEMTs Emulating Low-and High-Side Operation in Half Bridge Circuits | 1-gen-2024 | Modica, L.; Zagni, N.; Orlandini, D.; Cioni, M.; Cappellini, G.; Castagna, M. E.; Giorgino, G.; Iucolano, F.; Verzellesi, G.; Chini, A. | |
| RON Degradation Mechanisms of ON-Wafer 100-V p-GaN HEMTs Emulating Monolithically Integrated Half-Bridge Circuits | 1-gen-2024 | Zagni, Nicolo'; Modica, Lorenzo; Cioni, Marcello; Cappellini, Giacomo; Castagna, Maria Eloisa; Giorgino, Giovanni; Iucolano, Ferdinando; Verzellesi, Giovanni; Chini, Alessandro |