MODICA, LORENZO
MODICA, LORENZO
Mostra
records
Risultati 1 - 2 di 2 (tempo di esecuzione: 0.002 secondi).
Impact of Gate and Drain Leakage on VTHDrift and Dynamic-RONof 100V p-GaN Gate AlGaN/GaN HEMTs
2023 Cioni, M.; Giorgino, G.; Chini, A.; Parisi, A.; Cappellini, G.; Modica, L.; Luongo, G.; Miccoli, C.; Castagna, M. E.; Moschetti, M.; Tringali, C.; Iucolano, F.
RON Degradation Mechanisms of ON-Wafer 100-V p-GaN HEMTs Emulating Monolithically Integrated Half-Bridge Circuits
2024 Zagni, Nicolo'; Modica, Lorenzo; Cioni, Marcello; Cappellini, Giacomo; Castagna, Maria Eloisa; Giorgino, Giovanni; Iucolano, Ferdinando; Verzellesi, Giovanni; Chini, Alessandro
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Impact of Gate and Drain Leakage on VTHDrift and Dynamic-RONof 100V p-GaN Gate AlGaN/GaN HEMTs | 1-gen-2023 | Cioni, M.; Giorgino, G.; Chini, A.; Parisi, A.; Cappellini, G.; Modica, L.; Luongo, G.; Miccoli, C.; Castagna, M. E.; Moschetti, M.; Tringali, C.; Iucolano, F. | |
| RON Degradation Mechanisms of ON-Wafer 100-V p-GaN HEMTs Emulating Monolithically Integrated Half-Bridge Circuits | 1-gen-2024 | Zagni, Nicolo'; Modica, Lorenzo; Cioni, Marcello; Cappellini, Giacomo; Castagna, Maria Eloisa; Giorgino, Giovanni; Iucolano, Ferdinando; Verzellesi, Giovanni; Chini, Alessandro |