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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
SET switching effects on PCM endurance 1-gen-2010 V., Della Marca; F., Carboni; Larcher, Luca; Padovani, Andrea; Pavan, Paolo
SIMPLY: Design of a RRAM-Based Smart Logic-in-Memory Architecture using RRAM Compact Model 1-gen-2019 Puglisi, F. M.; Zanotti, T.; Pavan, P.
Simulating single event upset error rate in large digital circuits 1-gen-1994 Pavan, Paolo; E., Minami; R., Tu; P. K., Ko; C., Hu
Simulating Single Event Upset Rate with BERT 1-gen-1994 Pavan, Paolo; E., Minami; R., Tu; P. K., Ko; C., Hu
Simulating total dose radiation effects on circuit behavior 1-gen-1994 R., Tu; G., Lum; Pavan, Paolo; P. K., Ko; C., Hu
Smart Logic-in-Memory Architecture For Ultra-Low Power Large Fan-In Operations 1-gen-2020 Zanotti, Tommaso; Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo
Statistical modeling of leakage currents through SiO2/high- κ dielectrics stacks for non-volatile memory applications 1-gen-2008 Padovani, A.; Larcher, L.; Verma, S.; Pavan, P.; Majhi, P.; Kapur, P.; Parat, K.; Bersuker, G.; Saraswat, K.
Statistical Simulations of Oxide Leakage Current in MOS Transistors and Floating Gate Devices 1-gen-2005 Larcher, Luca; Pavan, Paolo
Statistical simulations to inspect and predict data retention and program disturbs in Flash memories 1-gen-2003 Larcher, Luca; Pavan, Paolo
Temperature Monitor: a New Tool to Profile Charge Distribution in NROMTM Memory Devices 1-gen-2006 L., Avital; Padovani, Andrea; Larcher, Luca; I., Bloom; R., Arie; Pavan, Paolo; B., Eitan
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 142
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 142
Autore
  • LARCHER, Luca 69
  • PUGLISI, Francesco Maria 43
  • PADOVANI, ANDREA 36
  • BERTACCHINI, Alessandro 24
  • VERZELLESI, Giovanni 14
  • VANDELLI, LUCA 9
  • ZAGNI, NICOLO' 9
  • DONDI, Denis 8
  • SCORCIONI, Stefano 8
  • ZANOTTI, TOMMASO 8
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 60
  • 2000 - 2009 41
  • 1990 - 1999 24
Editore
  • IEEE 50
  • Institute of Electrical and Elect... 26
  • Editions Frontieres 7
  • IEEE Computer Society 7
  • IEEE - Institute of Electrical a... 3
  • IEEE - Institute of Electrical an... 3
  • ASM International 2
  • Computational Publications 2
  • NSTI 2
  • unknown 2
Rivista
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 2
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SO... 1
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 1
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 1
Serie
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 17
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 15
  • PROCEEDINGS OF THE ANNUAL CONFERE... 5
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 3
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • LECTURE NOTES OF THE INSTITUTE FO... 1
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 1
Keyword
  • RRAM 19
  • RTN 8
  • Compact Model 5
  • Defects 5
  • logistics 5
  • semiconductor device reliability 5
  • Electrical and Electronic Enginee... 4
  • Flash memories 4
  • Flash memory 4
  • HfO2 4
Lingua
  • eng 142
Accesso al fulltext
  • no fulltext 95
  • reserved 41
  • partially open 5
  • open 1