Using RAD, a new module of Berkeley Reliability Tools (BERT), as a tool, users can design circuits to be radiation hard and characterize circuit behavior in environments where radiation is present. Previous simulators could not provide circuit output waveforms after irradiation because it was difficult to simulate the effect of radiation on a circuit in operation (AC bias condition) and because radiation affected MOSFETs of different processes in different ways. We have dealt with these problems and for the first time, successfully provided "SPICE-like'' simulation results.
Simulating total dose radiation effects on circuit behavior / R., Tu; G., Lum; Pavan, Paolo; P. K., Ko; C., Hu. - STAMPA. - (1994), pp. 344-350. ((Intervento presentato al convegno IRPS 1994 tenutosi a San Jose, CA (USA) nel 12-14 April 1994.
Data di pubblicazione: | 1994 |
Titolo: | Simulating total dose radiation effects on circuit behavior |
Autore/i: | R., Tu; G., Lum; Pavan, Paolo; P. K., Ko; C., Hu |
Autore/i UNIMORE: | |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0028330599 |
Codice identificativo ISI: | WOS:A1994BA79L00052 |
Nome del convegno: | IRPS 1994 |
Luogo del convegno: | San Jose, CA (USA) |
Data del convegno: | 12-14 April 1994 |
Pagina iniziale: | 344 |
Pagina finale: | 350 |
Citazione: | Simulating total dose radiation effects on circuit behavior / R., Tu; G., Lum; Pavan, Paolo; P. K., Ko; C., Hu. - STAMPA. - (1994), pp. 344-350. ((Intervento presentato al convegno IRPS 1994 tenutosi a San Jose, CA (USA) nel 12-14 April 1994. |
Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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