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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Testing Steer-by-Wire Controllers for Off-Highway Vehicles by Hardware-in-the-Loop Experiments 1-gen-2003 Bertacchini, Alessandro; Morselli, Riccardo; Pavan, Paolo; Zanasi, Roberto
The dependence of latch-up sensitivity on layout and technology features, as analyzed by electrical measurements, HFIELDS and SPICE simulations, and infrared microscopy characterization 1-gen-1990 E., Zanoni; G., Spiazzi; Pavan, Paolo; M., Cecchetti; M., Muschitiello
The Major Effect of Trapped Charge on Dielectric Breakdown Dynamics and Lifetime Estimation 1-gen-2023 Vecchi, Sara; Padovani, Andrea; Pavan, Paolo; Puglisi, Francesco Maria
The Relevance of Trapped Charge for Leakage and Random Telegraph Noise Phenomena 1-gen-2022 Vecchi, S.; Pavan, P.; Puglisi, F. M.
Transiently triggered latch-up in CMOS twin-tub and epitaxial technologies 1-gen-1991 Pavan, Paolo; P., Caprara; B., Bonati; E., Zanoni
Trap Dynamics Model Explaining the RON Stress/Recovery Behavior in Carbon-Doped Power AlGaN/GaN MOS-HEMTs 1-gen-2020 Zagni, Nicolo; Chini, Alessandro; Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Verzellesi, Giovanni
Ultra low cost triboelectric energy harvesting solutions for embedded sensor systems 1-gen-2015 Bertacchini, Alessandro; Larcher, Luca; Lasagni, Marco; Pavan, Paolo
Understanding the Role of the Ti Metal Electrode on the Forming of HfO2-based RRAMs 1-gen-2012 Padovani, Andrea; Larcher, Luca; Pavan, Paolo; C., Cagli; B., de Salvo
Validating Photoplethysmography (PPG) data for driver drowsiness detection 1-gen-2021 Amidei, A.; Fallica, P. G.; Conoci, S.; Pavan, P.
Variability and sensitivity to process parameters variations in InGaAs Dual-Gate Ultra-Thin Body MOSFETS: A scaling perspective 1-gen-2017 Zagni, Nicolò; Puglisi, Francesco Maria; Verzellesi, Giovanni; Pavan, Paolo
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 142
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 142
Autore
  • LARCHER, Luca 69
  • PUGLISI, Francesco Maria 43
  • PADOVANI, ANDREA 36
  • BERTACCHINI, Alessandro 24
  • VERZELLESI, Giovanni 14
  • VANDELLI, LUCA 9
  • ZAGNI, NICOLO' 9
  • DONDI, Denis 8
  • SCORCIONI, Stefano 8
  • ZANOTTI, TOMMASO 8
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 60
  • 2000 - 2009 41
  • 1990 - 1999 24
Editore
  • IEEE 50
  • Institute of Electrical and Elect... 26
  • Editions Frontieres 7
  • IEEE Computer Society 7
  • IEEE - Institute of Electrical a... 3
  • IEEE - Institute of Electrical an... 3
  • ASM International 2
  • Computational Publications 2
  • NSTI 2
  • unknown 2
Rivista
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 2
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SO... 1
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 1
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 1
Serie
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 16
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 15
  • PROCEEDINGS OF THE ANNUAL CONFERE... 5
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 3
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • LECTURE NOTES OF THE INSTITUTE FO... 1
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 1
Keyword
  • RRAM 19
  • RTN 8
  • Compact Model 5
  • Defects 5
  • logistics 5
  • semiconductor device reliability 5
  • Electrical and Electronic Enginee... 4
  • Flash memories 4
  • Flash memory 4
  • HfO2 4
Lingua
  • eng 142
Accesso al fulltext
  • no fulltext 95
  • reserved 41
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  • open 1