The Major Effect of Trapped Charge on Dielectric Breakdown Dynamics and Lifetime Estimation / Vecchi, Sara; Padovani, Andrea; Pavan, Paolo; Puglisi, Francesco Maria. - (2023). (Intervento presentato al convegno 2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW 2023) tenutosi a South Lake Tahoe, CA, USA nel 08-12 October 2023) [10.1109/iirw59383.2023.10477693].

The Major Effect of Trapped Charge on Dielectric Breakdown Dynamics and Lifetime Estimation

Vecchi, Sara;Padovani, Andrea;Pavan, Paolo;Puglisi, Francesco Maria
2023

2023
2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW 2023)
South Lake Tahoe, CA, USA
08-12 October 2023
Vecchi, Sara; Padovani, Andrea; Pavan, Paolo; Puglisi, Francesco Maria
The Major Effect of Trapped Charge on Dielectric Breakdown Dynamics and Lifetime Estimation / Vecchi, Sara; Padovani, Andrea; Pavan, Paolo; Puglisi, Francesco Maria. - (2023). (Intervento presentato al convegno 2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW 2023) tenutosi a South Lake Tahoe, CA, USA nel 08-12 October 2023) [10.1109/iirw59383.2023.10477693].
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
(S. Vecchi - IIRW 2023) The Major Effect of Trapped Charge on Dielectric Breakdown Dynamics and Lifetime Estimation.pdf

Accesso riservato

Tipologia: Versione pubblicata dall'editore
Dimensione 2.36 MB
Formato Adobe PDF
2.36 MB Adobe PDF   Visualizza/Apri   Richiedi una copia
Pubblicazioni consigliate

Licenza Creative Commons
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11380/1335866
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 1
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact