The Major Effect of Trapped Charge on Dielectric Breakdown Dynamics and Lifetime Estimation / Vecchi, Sara; Padovani, Andrea; Pavan, Paolo; Puglisi, Francesco Maria. - (2023). (Intervento presentato al convegno 2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) tenutosi a South Lake Tahoe, CA, USA nel 08-12 October 2023) [10.1109/iirw59383.2023.10477693].
The Major Effect of Trapped Charge on Dielectric Breakdown Dynamics and Lifetime Estimation
Vecchi, Sara;Padovani, Andrea;Pavan, Paolo;Puglisi, Francesco Maria
2023
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(S. Vecchi - IIRW 2023) The Major Effect of Trapped Charge on Dielectric Breakdown Dynamics and Lifetime Estimation.pdf
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