The circuit level modeling of single event effects is an area of on-giong research. Using this software, users can predict the error rate due to SEU in large circuits.
Simulating Single Event Upset Rate with BERT / Pavan, Paolo; E., Minami; R., Tu; P. K., Ko; C., Hu. - STAMPA. - (1994), pp. 1-1. (Intervento presentato al convegno 9th Single Event Effects Symposium tenutosi a Manhattan Beach, CA, (USA) nel 19-21 April, 1994).
Simulating Single Event Upset Rate with BERT
PAVAN, Paolo;
1994
Abstract
The circuit level modeling of single event effects is an area of on-giong research. Using this software, users can predict the error rate due to SEU in large circuits.
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