The circuit level modeling of single event effects is an area of on-giong research. Using this software, users can predict the error rate due to SEU in large circuits.

Simulating Single Event Upset Rate with BERT / Pavan, Paolo; E., Minami; R., Tu; P. K., Ko; C., Hu. - STAMPA. - (1994), pp. 1-1. ((Intervento presentato al convegno 9th Single Event Effects Symposium tenutosi a Manhattan Beach, CA, (USA) nel 19-21 April, 1994.

Simulating Single Event Upset Rate with BERT

PAVAN, Paolo;
1994-01-01

Abstract

The circuit level modeling of single event effects is an area of on-giong research. Using this software, users can predict the error rate due to SEU in large circuits.
9th Single Event Effects Symposium
Manhattan Beach, CA, (USA)
19-21 April, 1994
1
1
Pavan, Paolo; E., Minami; R., Tu; P. K., Ko; C., Hu
Simulating Single Event Upset Rate with BERT / Pavan, Paolo; E., Minami; R., Tu; P. K., Ko; C., Hu. - STAMPA. - (1994), pp. 1-1. ((Intervento presentato al convegno 9th Single Event Effects Symposium tenutosi a Manhattan Beach, CA, (USA) nel 19-21 April, 1994.
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