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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
An Improved Random Path Length Algorithm for p-i-n and Staircase Avalanche Photodiodes 1-gen-2018 Pilotto, Alessandro; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Antonelli, Matias; Arfelli, Fulvia; Biasiol, Giorgio; Cautero, Giuseppe; Driussi, Francesco; Menk, Ralf H.; Nichetti, Camilla; Steinhartova, Tereza
An Improved Semi-classical Approach for Simulating Tunnel-FETs 1-gen-2012 Revelant, Alberto; Osgnach, Patrik; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
An Improved Semi-Classical Model to Investigate Tunnel-FET performance 1-gen-2013 Revelant, Alberto; Osgnach, Patrik; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
An improved semiclassical Monte-Carlo approach for nano-scale MOSFET simulation 1-gen-2004 Palestri, Pierpaolo; Eminente, S; Esseni, David; Fiegna, C; Sangiorgi, E; Selmi, Luca
An Improved Test Structure to Characterize Ultra- Low Hot Carrier Injection in Homogeneous Conditions 1-gen-1996 Selmi, Luca; Bez, R; Sangiorgi, Enrico
An in-depth investigation of physical mechanisms governing SANOS memories characteristics 1-gen-2009 M., Bocquet; Vianello, Elisa; G., Molas; L., Perniola; H., Grampeix; F., Martin; J. P., Colonna; A. M., Papon; P., Brianceau; M., Gély; B., De Salvo; G., Pananakakis; G., Ghibaudo; Selmi, Luca
Analysis of Dielectric Microbead Detection by Impedance Spectroscopy with Nanoribbons 1-gen-2016 Scarbolo, Paolo; Accastelli, Enrico; Ernst, Thomas; Guiducci, Carlotta; Selmi, Luca
Analysis of TFET based 6T SRAM cells implemented with state of the art silicon nanowires 1-gen-2014 S., Strangio; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca; F., Crupi
Analysis of transport properties of nanoscale SOI devices: Full Quantum versus Semi Classical models 1-gen-2007 Lucci, Luca; M., Bescond; R., Clerc; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca; S., Cristoloveanu
Analysis of Uniform Degradation in n-MOSFETs 1-gen-1992 Selmi, Luca; Fiegna, C; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B.
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 236
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  • Atti di CONVEGNO::Poster 2
Autore
  • PALESTRI, Pierpaolo 137
  • ABRAMO, ANTONIO 12
  • LEVA, FEDERICO 5
  • ASANOVSKI, RUBEN 4
  • BRANDALISE, DENIS 3
  • PAVAN, Paolo 3
  • GOLDONI, DANIELE 2
  • ROVATI, Luigi 2
  • BERTACCHINI, Alessandro 1
  • BIGLIARDI, Sara 1
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 90
  • 2000 - 2009 91
  • 1990 - 1999 36
  • 1987 - 1989 2
Editore
  • IEEE 48
  • Institute of Electrical and Elect... 29
  • IEEE Computer Society 12
  • ELSEVIER SCIENCE BV 2
  • Society for Industrial and Applie... 2
  • 466469 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Electrochemical Society Inc. 1
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Rivista
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  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 2
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 2
  • SOLID-STATE ELECTRONICS 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 12
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 9
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 5
  • INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMUL... 2
Keyword
  • III-V compounds 3
  • TCAD 3
  • CMOS 2
  • Impact Ionization 2
  • nanoribbon 2
  • potentiometric sensors 2
  • Simulation 2
  • 1/f 1
  • AC 1
  • admittance 1
Lingua
  • eng 190
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Accesso al fulltext
  • reserved 136
  • no fulltext 94
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  • embargoed 1