RicercaInizia una nuova ricerca

NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

cerca in
Risultati 41 - 50 di 236 (tempo di esecuzione: 1.476 secondi).
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Application of Bridged T-coils to the design of Multiplicative Gain MMIC Amplifiers 1-gen-1991 Selmi, Luca; Estreich, D; Ricco, B.
Approaches for Nanoparticles Size Estimation with CMOS-based Nano-Capacitors Array Biosensor 1-gen-2023 Goldoni, Daniele; Lombardo, Federico; Pittino, Federico; Rovati, Luigi; Selmi, Luca
Assessment of Advanced Nanoscale Bulk FinFET's Self-Heating accounting for degraded thermal conductivity at the nanoscale 1-gen-2023 Tondelli, Lisa; Asanovski, Ruben; Selmi, Luca
Assessment of the Impact of Biaxial Strain on the Drain Current of Decanometric n-MOSFET 1-gen-2006 Ponton, D; Lucci, L; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca
Back-Scattering in Quasi Ballistic NanoMOSFETs: The Role of Non Thermal Carrier Distributions 1-gen-2008 Clerc, R; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Ghibaudo, G.
Backscattering and common-base current gain of the Graphene Base Transistor (GBT) 1-gen-2015 Venica, Stefano; Driussi, Francesco; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
Ballistic Effects in Advanced MOSFETs along the Roadmap 1-gen-2005 Sangiorgi, E; Palestri, Pierpaolo; Eminente, S; Esseni, David; Fiegna, C; Selmi, Luca
Bayesian Estimation for Transport Equations for Nanocapacitors 1-gen-2018 Stadlbauer, Benjamin; Taghizadeh, Leila; Morales Escalante, Jose A.; Heitzinger, Clemens; Cossettini, Andrea; Selmi, Luca
Benchmarks of a III-V TFET technology platform against the 10-nm CMOS technology node considering 28T Full-Adders 1-gen-2016 Strangio, Sebastiano; Palestri, Pierpaolo; Lanuzza, M.; Esseni, David; Crupi, F.; Selmi, Luca
Bias and Temperature Dependence of Gate and Substrate Currents in n-MOSFETs at Low Drain Voltage 1-gen-1994 Esseni, David; Selmi, Luca; R., Bez; Sangiorgi, Enrico; B., Ricco
Risultati 41 - 50 di 236 (tempo di esecuzione: 1.476 secondi).
↑ Back to top
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile

Aggiungere filtri:  
Aggiungi
Opzioni
Scopri
Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 236
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 221
  • Atti di CONVEGNO::Abstract in Att... 13
  • Atti di CONVEGNO::Poster 2
Autore
  • PALESTRI, Pierpaolo 137
  • ABRAMO, ANTONIO 12
  • LEVA, FEDERICO 5
  • ASANOVSKI, RUBEN 4
  • BRANDALISE, DENIS 3
  • PAVAN, Paolo 3
  • GOLDONI, DANIELE 2
  • ROVATI, Luigi 2
  • BERTACCHINI, Alessandro 1
  • BIGLIARDI, Sara 1
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 90
  • 2000 - 2009 91
  • 1990 - 1999 36
  • 1987 - 1989 2
Editore
  • IEEE 48
  • Institute of Electrical and Elect... 29
  • IEEE Computer Society 12
  • ELSEVIER SCIENCE BV 2
  • Society for Industrial and Applie... 2
  • 466469 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Electrochemical Society Inc. 1
  • Elsevier Ltd 1
  • Libreria Progetto 1
Rivista
  • ECS TRANSACTIONS 3
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 2
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 2
  • SOLID-STATE ELECTRONICS 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 12
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 9
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 5
  • INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMUL... 2
Keyword
  • III-V compounds 3
  • TCAD 3
  • CMOS 2
  • Impact Ionization 2
  • nanoribbon 2
  • potentiometric sensors 2
  • Simulation 2
  • 1/f 1
  • AC 1
  • admittance 1
Lingua
  • eng 190
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • reserved 136
  • no fulltext 94
  • open 5
  • embargoed 1