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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Ultra-High Frequency (500 MHz) Capacitance Spectroscopy for Nanobiosensing 1-gen-2020 Cossettini, Andrea; Brandalise, Denis; Palestri, Pierpaolo; Bertacchini, Alessandro; Ramponi, Michele; Widdershoven, Frans; Benini, Luca; Selmi, Luca
Understanding the mobility reduction in MOSFETs featuring high-κ dielectrics 1-gen-2010 Toniutti, P; DE MICHIELIS, M; Palestri, P; Driussi, F; Esseni, D; Selmi, L
Understanding the mobility reduction in MOSFETs featuring high-κ dielectrics 1-gen-2010 Toniutti, Paolo; DE MICHIELIS, Marco; Palestri, Pierpaolo; Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca
Validity of the effective mass approximation in silicon and germanium inversion layers 1-gen-2006 VAN DER STEEN J., L; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
Welcome letter 1-gen-2014 Selmi, L.; Klootwijk, J.; Meneghesso, G.; Toffoli, A.; Driussi, F.
Well-tempered MOSFETs: 1D versus 2D quantum analysis 1-gen-2000 Abramo, Antonio; Selmi, Luca; Yu, Z; Dutton, R.
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 236
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 221
  • Atti di CONVEGNO::Abstract in Att... 13
  • Atti di CONVEGNO::Poster 2
Autore
  • PALESTRI, Pierpaolo 137
  • ABRAMO, ANTONIO 12
  • LEVA, FEDERICO 5
  • ASANOVSKI, RUBEN 4
  • BRANDALISE, DENIS 3
  • PAVAN, Paolo 3
  • GOLDONI, DANIELE 2
  • ROVATI, Luigi 2
  • BERTACCHINI, Alessandro 1
  • BIGLIARDI, Sara 1
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 90
  • 2000 - 2009 91
  • 1990 - 1999 36
  • 1987 - 1989 2
Editore
  • IEEE 46
  • Institute of Electrical and Elect... 27
  • IEEE Computer Society 12
  • ELSEVIER SCIENCE BV 2
  • Society for Industrial and Applie... 2
  • 466469 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Elsevier Ltd 1
  • Libreria Progetto 1
  • Univeristy of Wuppertal 1
Rivista
  • ECS TRANSACTIONS 3
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 2
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 2
  • SOLID-STATE ELECTRONICS 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 9
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 7
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 5
  • INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMUL... 2
Keyword
  • III-V compounds 3
  • TCAD 3
  • CMOS 2
  • Impact Ionization 2
  • nanoribbon 2
  • potentiometric sensors 2
  • Simulation 2
  • 1/f 1
  • AC 1
  • admittance 1
Lingua
  • eng 190
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • reserved 136
  • no fulltext 94
  • open 5
  • embargoed 1