Validity of the effective mass approximation in silicon and germanium inversion layers / VAN DER STEEN J., L; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca. - (2006), pp. 301-302. (Intervento presentato al convegno International workshop on Computational Electronics (IWCE) tenutosi a Vienna (A) maggio 2006 nel maggio 2006).
Validity of the effective mass approximation in silicon and germanium inversion layers
PALESTRI, Pierpaolo;SELMI, Luca
2006
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