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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A Test Chip and an Accurate Measurement System to Characterize Hot Hole Injection in the Gate Oxide of p-MOSFET’s 1-gen-1994 Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B.
A Test Pattern to Investigate the Effect of Capping Layers on the Hot Carrier Induced Photon Spectra of MOSFET’s 1-gen-1994 Lanzoni, M; Selmi, Luca; Bez, R; Manfredi, M.
AC Frequency Resolved Measurements for Direct Extraction of the Parasitic Resistance of Individual MOSFETs 1-gen-1994 Selmi, Luca; Alfieri, A; Ricco, B.
Adjacent structure interactions in latch-up dc triggering of CMOS twin-tub and epitaxial technologies 1-gen-1991 Pavan, Paolo; Zanoni, E.; Menozzi, R.; Selmi, L.
Adjacent structure interactions in the Latch-up triggering of CMOS twin-tub and epitaxial technologies 1-gen-1991 Pavan, P; Zanoni, E; Menozzi, R; Selmi, Luca
An accurate System for automated On-wafer Characterization of Three-port Devices 1-gen-1990 Selmi, Luca; Estreich, D. B.
An efficient, mixed semiclassical/quantum mechanical model to simulate planar and wire nano-transistors 1-gen-2007 Selmi, Luca; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Lucci, Luca; DE MICHIELIS, Marco
An Experimental Study of Low Field Electron Mobility in Double-Gate, Ultra-Thin SOI MOSFETs 1-gen-2001 Esseni, David; M., Mastrapasqua; C., Fiegna; G. K., Celler; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico
An improved procedure to extract the limiting carrier velocity in ultra scaled CMOS devices 1-gen-2012 Toniutti, Paolo; Clerc, R; Palestri, Pierpaolo; Diouf, C; Cros, A; Esseni, David; Boeuf, F; Ghibaudo, G; Selmi, Luca
An improved procedure to test CMOS ICs for Latch-up 1-gen-1990 Menozzi, R; Lanzoni, M; Selmi, Luca; Ricco, B.
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 236
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 221
  • Atti di CONVEGNO::Abstract in Att... 13
  • Atti di CONVEGNO::Poster 2
Autore
  • PALESTRI, Pierpaolo 137
  • ABRAMO, ANTONIO 12
  • LEVA, FEDERICO 5
  • ASANOVSKI, RUBEN 4
  • BRANDALISE, DENIS 3
  • PAVAN, Paolo 3
  • GOLDONI, DANIELE 2
  • ROVATI, Luigi 2
  • BERTACCHINI, Alessandro 1
  • BIGLIARDI, Sara 1
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 90
  • 2000 - 2009 91
  • 1990 - 1999 36
  • 1987 - 1989 2
Editore
  • IEEE 46
  • Institute of Electrical and Elect... 27
  • IEEE Computer Society 12
  • ELSEVIER SCIENCE BV 2
  • Society for Industrial and Applie... 2
  • 466469 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Elsevier Ltd 1
  • Libreria Progetto 1
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Rivista
  • ECS TRANSACTIONS 3
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 2
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  • SOLID-STATE ELECTRONICS 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 9
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  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 5
  • INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMUL... 2
Keyword
  • III-V compounds 3
  • TCAD 3
  • CMOS 2
  • Impact Ionization 2
  • nanoribbon 2
  • potentiometric sensors 2
  • Simulation 2
  • 1/f 1
  • AC 1
  • admittance 1
Lingua
  • eng 190
  • ita 1
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  • reserved 136
  • no fulltext 94
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  • embargoed 1