An Experimental Study of Low Field Electron Mobility in Double-Gate, Ultra-Thin SOI MOSFETs / Esseni, David; M., Mastrapasqua; C., Fiegna; G. K., Celler; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico. - (2001), pp. 671-674. (Intervento presentato al convegno N/A tenutosi a N/A nel N/A) [10.1109/IEDM.2001.979536].
An Experimental Study of Low Field Electron Mobility in Double-Gate, Ultra-Thin SOI MOSFETs
SELMI, Luca;
2001-01-01
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