An Experimental Study of Low Field Electron Mobility in Double-Gate, Ultra-Thin SOI MOSFETs / Esseni, D., M., M., C., F., G. K., C., Selmi, L., Sangiorgi, E.. - (2001), pp. 671-674. (N/A N/A N/A) [10.1109/IEDM.2001.979536].
An Experimental Study of Low Field Electron Mobility in Double-Gate, Ultra-Thin SOI MOSFETs
SELMI, Luca;
2001
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