AC Frequency Resolved Measurements for Direct Extraction of the Parasitic Resistance of Individual MOSFETs / Selmi, Luca; Alfieri, A; Ricco, B.. - (1994), pp. 471-474. (Intervento presentato al convegno IEDM 1994) [10.1109/IEDM.1994.383366].

AC Frequency Resolved Measurements for Direct Extraction of the Parasitic Resistance of Individual MOSFETs

SELMI, Luca;
1994

1994
IEDM 1994
471
474
Selmi, Luca; Alfieri, A; Ricco, B.
AC Frequency Resolved Measurements for Direct Extraction of the Parasitic Resistance of Individual MOSFETs / Selmi, Luca; Alfieri, A; Ricco, B.. - (1994), pp. 471-474. (Intervento presentato al convegno IEDM 1994) [10.1109/IEDM.1994.383366].
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11380/1163194
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