A Test Pattern to Investigate the Effect of Capping Layers on the Hot Carrier Induced Photon Spectra of MOSFET’s / Lanzoni, M; Selmi, Luca; Bez, R; Manfredi, M.. - (1994), pp. 204-207. (Intervento presentato al convegno International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)).
A Test Pattern to Investigate the Effect of Capping Layers on the Hot Carrier Induced Photon Spectra of MOSFET’s
SELMI, Luca;
1994
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