A Test Chip and an Accurate Measurement System to Characterize Hot Hole Injection in the Gate Oxide of p-MOSFET’s / Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B.. - (1994), pp. 68-73. (Intervento presentato al convegno ICMTS 1993).
A Test Chip and an Accurate Measurement System to Characterize Hot Hole Injection in the Gate Oxide of p-MOSFET’s
SELMI, Luca;
1994
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