EnglishAnalysis of Uniform Degradation in n-MOSFETs / Selmi, Luca; Fiegna, C; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B.. - (1992), pp. 729-732. ((Intervento presentato al convegno IEDM 1992.
| Data di pubblicazione: | 1992 | |
| Titolo: | Analysis of Uniform Degradation in n-MOSFETs | |
| Autore/i: | Selmi, Luca; Fiegna, C; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B. | |
| Autore/i UNIMORE: | ||
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-85067384558 | |
| Nome del convegno: | IEDM 1992 | |
| Pagina iniziale: | 729 | |
| Pagina finale: | 732 | |
| Citazione: | Analysis of Uniform Degradation in n-MOSFETs / Selmi, Luca; Fiegna, C; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B.. - (1992), pp. 729-732. ((Intervento presentato al convegno IEDM 1992. | |
| Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
Loading suggested articles...
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
Copyright © 2022