EnglishAnalysis of Uniform Degradation in n-MOSFETs / Selmi, Luca; Fiegna, C; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B.. - (1992), pp. 729-732. ((Intervento presentato al convegno IEDM 1992.
| Data di pubblicazione: | 1992 |
| Titolo: | Analysis of Uniform Degradation in n-MOSFETs |
| Autore/i: | Selmi, Luca; Fiegna, C; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B. |
| Autore/i UNIMORE: | |
| Nome del convegno: | IEDM 1992 |
| Pagina iniziale: | 729 |
| Pagina finale: | 732 |
| Citazione: | Analysis of Uniform Degradation in n-MOSFETs / Selmi, Luca; Fiegna, C; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B.. - (1992), pp. 729-732. ((Intervento presentato al convegno IEDM 1992. |
| Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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