Analysis of Uniform Degradation in n-MOSFETs / Selmi, Luca; Fiegna, C; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B.. - (1992), pp. 729-732. ((Intervento presentato al convegno IEDM 1992.
Data di pubblicazione: | 1992 | |
Titolo: | Analysis of Uniform Degradation in n-MOSFETs | |
Autore/i: | Selmi, Luca; Fiegna, C; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B. | |
Autore/i UNIMORE: | ||
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-85067384558 | |
Nome del convegno: | IEDM 1992 | |
Pagina iniziale: | 729 | |
Pagina finale: | 732 | |
Citazione: | Analysis of Uniform Degradation in n-MOSFETs / Selmi, Luca; Fiegna, C; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B.. - (1992), pp. 729-732. ((Intervento presentato al convegno IEDM 1992. | |
Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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