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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A Monte Carlo Technique to Investigate Signal Delays of Advanced Si BJT's up to High Currents 1-gen-2000 Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; G. A. M., Hurkx; J. W., Slotboom
A Multi-Subband Monte Carlo study of electron transport in strained SiGe n-type FinFETs 1-gen-2012 Lizzit, Daniel; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Conzatti, Francesco; Selmi, Luca
A New Multi Subband Monte Carlo Simulator for Nano p-MOSFETs 1-gen-2008 DE MICHIELIS, Marco; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
A novel method to determine the Source and Drain resistances of individual MOSFETs 1-gen-1988 Ricco, B; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico
A scaled replacement metal gate InGaAs-on-Insulator n-FinFET on Si with record performance 1-gen-2017 Hahn, H.; Deshpande, V.; Caruso, E.; Sant, S.; O'Connor, E.; Baumgartner, Y.; Sousa, M.; Caimi, D.; Olziersky, A.; Palestri, P.; Selmi, L.; Schenk, A.; Czornomaz, L.
A simulation study of FET-based nanoelectrodes for active intracellular neural recordings 1-gen-2022 Leva, Federico; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
A simulation study of strain induced performance enhancements in InAs nanowire Tunnel-FETs 1-gen-2011 Conzatti, Francesco; M. G., Pala; Esseni, David; E., Bano; Selmi, Luca
A Study of Injection Conditions in the Substrate Hot Electron Induced Degradation of n-MOSFETs 1-gen-1993 Selmi, Luca; Fiegna, C; Bez, R; Sangiorgi, Enrico; Ricco, B.
A technique to model the AC response of diffuse layers at electrode/electrolyte interfaces and to efficiently simulate impedimetric biosensor arrays for many analyte configurations 1-gen-2014 Pittino, Federico; Selmi, Luca
A Test Chip and an Accurate Measurement System to Characterize Hot Hole Injection in the Gate Oxide of p-MOSFET’s 1-gen-1994 Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico; Bez, R; Ricco, B.
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 221
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 221
Autore
  • PALESTRI, Pierpaolo 130
  • ABRAMO, ANTONIO 12
  • LEVA, FEDERICO 5
  • PAVAN, Paolo 3
  • ASANOVSKI, RUBEN 2
  • BIGLIARDI, Sara 1
  • BRANDALISE, DENIS 1
  • GOLDONI, DANIELE 1
  • NICOLINI, JACOPO 1
  • ONGARO, CLAUDIO 1
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 12
  • 2010 - 2019 81
  • 2000 - 2009 90
  • 1990 - 1999 36
  • 1987 - 1989 2
Editore
  • IEEE 46
  • Institute of Electrical and Elect... 25
  • IEEE Computer Society 12
  • ELSEVIER SCIENCE BV 2
  • 466469 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Elsevier Ltd 1
  • Libreria Progetto 1
  • Univeristy of Wuppertal 1
Rivista
  • ECS TRANSACTIONS 3
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 2
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 2
  • SOLID-STATE ELECTRONICS 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 9
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 7
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 4
  • INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMUL... 2
Keyword
  • III-V compounds 3
  • TCAD 3
  • CMOS 2
  • Impact Ionization 2
  • nanoribbon 2
  • potentiometric sensors 2
  • Simulation 2
  • 1/f 1
  • AC 1
  • admittance 1
Lingua
  • eng 175
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • reserved 125
  • no fulltext 91
  • open 4
  • embargoed 1