A Study of Injection Conditions in the Substrate Hot Electron Induced Degradation of n-MOSFETs / Selmi, L., Fiegna, C., Bez, R., Sangiorgi, E., Ricco, B.. - (1993), pp. 156-157. (VPAD'93 May).
A Study of Injection Conditions in the Substrate Hot Electron Induced Degradation of n-MOSFETs
SELMI, Luca;
1993
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