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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A Test Pattern to Investigate the Effect of Capping Layers on the Hot Carrier Induced Photon Spectra of MOSFET’s 1-gen-1994 Lanzoni, M; Selmi, Luca; Bez, R; Manfredi, M.
AC Frequency Resolved Measurements for Direct Extraction of the Parasitic Resistance of Individual MOSFETs 1-gen-1994 Selmi, Luca; Alfieri, A; Ricco, B.
Adjacent structure interactions in latch-up dc triggering of CMOS twin-tub and epitaxial technologies 1-gen-1991 Pavan, Paolo; Zanoni, E.; Menozzi, R.; Selmi, L.
Adjacent structure interactions in the Latch-up triggering of CMOS twin-tub and epitaxial technologies 1-gen-1991 Pavan, P; Zanoni, E; Menozzi, R; Selmi, Luca
An accurate System for automated On-wafer Characterization of Three-port Devices 1-gen-1990 Selmi, Luca; Estreich, D. B.
An efficient, mixed semiclassical/quantum mechanical model to simulate planar and wire nano-transistors 1-gen-2007 Selmi, Luca; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Lucci, Luca; DE MICHIELIS, Marco
An Experimental Study of Low Field Electron Mobility in Double-Gate, Ultra-Thin SOI MOSFETs 1-gen-2001 Esseni, David; M., Mastrapasqua; C., Fiegna; G. K., Celler; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico
An improved procedure to extract the limiting carrier velocity in ultra scaled CMOS devices 1-gen-2012 Toniutti, Paolo; Clerc, R; Palestri, Pierpaolo; Diouf, C; Cros, A; Esseni, David; Boeuf, F; Ghibaudo, G; Selmi, Luca
An improved procedure to test CMOS ICs for Latch-up 1-gen-1990 Menozzi, R; Lanzoni, M; Selmi, Luca; Ricco, B.
An Improved Random Path Length Algorithm for p-i-n and Staircase Avalanche Photodiodes 1-gen-2018 Pilotto, Alessandro; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Antonelli, Matias; Arfelli, Fulvia; Biasiol, Giorgio; Cautero, Giuseppe; Driussi, Francesco; Menk, Ralf H.; Nichetti, Camilla; Steinhartova, Tereza
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 221
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 221
Autore
  • PALESTRI, Pierpaolo 130
  • ABRAMO, ANTONIO 12
  • LEVA, FEDERICO 5
  • PAVAN, Paolo 3
  • ASANOVSKI, RUBEN 2
  • BIGLIARDI, Sara 1
  • BRANDALISE, DENIS 1
  • GOLDONI, DANIELE 1
  • NICOLINI, JACOPO 1
  • ONGARO, CLAUDIO 1
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 12
  • 2010 - 2019 81
  • 2000 - 2009 90
  • 1990 - 1999 36
  • 1987 - 1989 2
Editore
  • IEEE 46
  • Institute of Electrical and Elect... 25
  • IEEE Computer Society 12
  • ELSEVIER SCIENCE BV 2
  • 466469 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Elsevier Ltd 1
  • Libreria Progetto 1
  • Univeristy of Wuppertal 1
Rivista
  • ECS TRANSACTIONS 3
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 2
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 2
  • SOLID-STATE ELECTRONICS 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 9
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 7
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 4
  • INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMUL... 2
Keyword
  • III-V compounds 3
  • TCAD 3
  • CMOS 2
  • Impact Ionization 2
  • nanoribbon 2
  • potentiometric sensors 2
  • Simulation 2
  • 1/f 1
  • AC 1
  • admittance 1
Lingua
  • eng 175
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • reserved 125
  • no fulltext 91
  • open 4
  • embargoed 1