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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Assessment of the Impact of Biaxial Strain on the Drain Current of Decanometric n-MOSFET 1-gen-2006 Ponton, D; Lucci, L; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca
Back-Scattering in Quasi Ballistic NanoMOSFETs: The Role of Non Thermal Carrier Distributions 1-gen-2008 Clerc, R; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Ghibaudo, G.
Ballistic Effects in Advanced MOSFETs along the Roadmap 1-gen-2005 Sangiorgi, E; Palestri, Pierpaolo; Eminente, S; Esseni, David; Fiegna, C; Selmi, Luca
Benchmarks of a III-V TFET technology platform against the 10-nm CMOS technology node considering 28T Full-Adders 1-gen-2016 Strangio, Sebastiano; Palestri, Pierpaolo; Lanuzza, M.; Esseni, David; Crupi, F.; Selmi, Luca
Bias and Temperature Dependence of Gate and Substrate Currents in n-MOSFETs at Low Drain Voltage 1-gen-1994 Esseni, David; Selmi, Luca; R., Bez; Sangiorgi, Enrico; B., Ricco
Can Photon Emission / Absorption Processes Explain the Substrate Current of Tunneling MOS Capacitors? 1-gen-2001 DALLA SERRA, A.; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
Carrier Quantization in SOI MOSFETs using an Effective Potential Based Monte-Carlo Tool 1-gen-2003 Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Abramo, Antonio; Clerc, R; Selmi, Luca
Cathode Hot Electrons and Anode Hot Holes in Tunneling MOS Capacitors 1-gen-2000 Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico; M., Pavesi; F., Widdershoven
Challenges and opportunities in the design of Tunnel FETs: materials, device architectures, and defects 1-gen-2014 Esseni, David; M. G., Pala; Revelant, Alberto; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; M., Li; G., Snider; D., Jena; H. G., Xing
Characterization and Modeling of Hot-Carrier Luminescence in Silicon n+/n/n+ Devices 1-gen-1995 Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; BOULIN D., M; Bude, J; Manfredi, M; Sangiorgi, Enrico; Pinto, M. R.
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 221
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 221
Autore
  • PALESTRI, Pierpaolo 130
  • ABRAMO, ANTONIO 12
  • LEVA, FEDERICO 5
  • PAVAN, Paolo 3
  • ASANOVSKI, RUBEN 2
  • BIGLIARDI, Sara 1
  • BRANDALISE, DENIS 1
  • GOLDONI, DANIELE 1
  • NICOLINI, JACOPO 1
  • ONGARO, CLAUDIO 1
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 12
  • 2010 - 2019 81
  • 2000 - 2009 90
  • 1990 - 1999 36
  • 1987 - 1989 2
Editore
  • IEEE 48
  • Institute of Electrical and Elect... 27
  • IEEE Computer Society 12
  • ELSEVIER SCIENCE BV 2
  • 466469 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Electrochemical Society Inc. 1
  • Elsevier Ltd 1
  • Libreria Progetto 1
  • Univeristy of Wuppertal 1
Rivista
  • ECS TRANSACTIONS 3
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 2
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 2
  • SOLID-STATE ELECTRONICS 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 12
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 9
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 4
  • INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMUL... 2
Keyword
  • III-V compounds 3
  • TCAD 3
  • CMOS 2
  • Impact Ionization 2
  • nanoribbon 2
  • potentiometric sensors 2
  • Simulation 2
  • 1/f 1
  • AC 1
  • admittance 1
Lingua
  • eng 175
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • reserved 125
  • no fulltext 91
  • open 4
  • embargoed 1