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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Characterization of CMOS structures (0.6 um process) submitted to HBM and CDM ESD stress tests 1-gen-1997 G., Meneghesso; Colombo, P.; M., Brambilla; R., Annunziata; Pavan, Paolo; E., Zanoni
Characterization of CMOS Structures (O.6 urn process) Submitted to HBM and COM ESD Stress Tests 1-gen-1997 Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Colombo, P.; Brambilla, M.; Annunziata, R.; Pavan, P.
Charge loss in TANOS devices caused by Vt sensing measurements during retention 1-gen-2010 H., Park; G., Bersuker; D., Gilmer; K. Y., Lim; M., Jo; H., Hwang; Padovani, Andrea; Larcher, Luca; Pavan, Paolo; W., Taylor; P. D., Kirsch
Circuit Reliability Analysis of In-Memory Inference in Binarized Neural Networks 1-gen-2020 Zanotti, Tommaso; Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo
Circuit Reliability Analysis of RRAM-based Logic-in-Memory Crossbar Architectures Including Line Parasitic Effects, Variability, and Random Telegraph Noise 1-gen-2020 Zanotti, T.; Puglisi, F. M.; Pavan, P.
Circuit reliability of low-power rram-based logic-in-memory architectures 1-gen-2019 Zanotti, T.; Puglisi, F. M.; Pavan, P.
CMOS and Interconnect Reliability - Flash Reliability/Hot Carrier Effects 1-gen-2003 Pavan, P.; Owens, A.
Combined variability/sensitivity analysis in III-V and silicon FETs for future technological nodes 1-gen-2017 Zagni, Nicolo'; Puglisi, Francesco Maria; Verzellesi, Giovanni; Pavan, Paolo
Combining Experiments and a Novel Small Signal Model to Investigate the Degradation Mechanisms in Ferroelectric Tunnel Junctions 1-gen-2022 Benatti, L.; Pavan, P.; Puglisi, F. M.
Comprehensive physical modeling of forming and switching operations in HfO2 RRAM devices 1-gen-2011 Vandelli, Luca; Padovani, Andrea; Larcher, Luca; G., Broglia; G., Ori; Montorsi, Monia; G., Bersuker; Pavan, Paolo
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 142
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 142
Autore
  • LARCHER, Luca 69
  • PUGLISI, Francesco Maria 43
  • PADOVANI, ANDREA 36
  • BERTACCHINI, Alessandro 24
  • VERZELLESI, Giovanni 14
  • VANDELLI, LUCA 9
  • ZAGNI, NICOLO' 9
  • DONDI, Denis 8
  • SCORCIONI, Stefano 8
  • ZANOTTI, TOMMASO 8
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 60
  • 2000 - 2009 41
  • 1990 - 1999 24
Editore
  • IEEE 50
  • Institute of Electrical and Elect... 26
  • Editions Frontieres 7
  • IEEE Computer Society 7
  • IEEE - Institute of Electrical a... 3
  • IEEE - Institute of Electrical an... 3
  • ASM International 2
  • Computational Publications 2
  • NSTI 2
  • unknown 2
Rivista
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 2
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SO... 1
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 1
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 1
Serie
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 17
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 15
  • PROCEEDINGS OF THE ANNUAL CONFERE... 5
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 3
  • IEEE International Integrated Rel... 1
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • LECTURE NOTES OF THE INSTITUTE FO... 1
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 1
Keyword
  • RRAM 19
  • RTN 8
  • Compact Model 5
  • Defects 5
  • logistics 5
  • semiconductor device reliability 5
  • Electrical and Electronic Enginee... 4
  • Flash memories 4
  • Flash memory 4
  • HfO2 4
Lingua
  • eng 142
Accesso al fulltext
  • no fulltext 95
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  • open 1