Circuit Reliability Analysis of In-Memory Inference in Binarized Neural Networks / Zanotti, Tommaso; Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo. - 2020-:(2020), pp. 1-5. (Intervento presentato al convegno 2020 IEEE International Integrated Reliability Workshop, IIRW 2020 tenutosi a Fallen Leaf Lake - California - U.S.A. nel 4-8/10/2020) [10.1109/IIRW49815.2020.9312858].

Circuit Reliability Analysis of In-Memory Inference in Binarized Neural Networks

Zanotti, Tommaso;Puglisi, Francesco Maria;Pavan, Paolo
2020
2020
2020 IEEE International Integrated Reliability Workshop, IIRW 2020
Fallen Leaf Lake - California - U.S.A.
4-8/10/2020
WOS:000659349800010
2-s2.0-85099768669
2020-
1
5
Zanotti, Tommaso; Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo
Circuit Reliability Analysis of In-Memory Inference in Binarized Neural Networks / Zanotti, Tommaso; Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo. - 2020-:(2020), pp. 1-5. (Intervento presentato al convegno 2020 IEEE International Integrated Reliability Workshop, IIRW 2020 tenutosi a Fallen Leaf Lake - California - U.S.A. nel 4-8/10/2020) [10.1109/IIRW49815.2020.9312858].
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