CMOS and Interconnect Reliability - Flash Reliability/Hot Carrier Effects / Pavan, P.; Owens, A.. - (2003), p. 155. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Devices Meeting tenutosi a Washington, DC, usa nel 2003.

CMOS and Interconnect Reliability - Flash Reliability/Hot Carrier Effects

Pavan P.;
2003-01-01

IEEE International Electron Devices Meeting
Washington, DC, usa
2003
155
Pavan, P.; Owens, A.
CMOS and Interconnect Reliability - Flash Reliability/Hot Carrier Effects / Pavan, P.; Owens, A.. - (2003), p. 155. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Devices Meeting tenutosi a Washington, DC, usa nel 2003.
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