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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Analysis of charge storage in the base of bipolar transistors and its influence on the parasitic resistance adopting an eight terminal Kelvin test structure 1-gen-1996 S., Asti; T., Cavioni; A., Neviani; Pavan, Paolo; M., Stival; L., Vendrame; E., Zanoni
Analysis of interface-trap effects in inversion-type InGaAs/ZrO2 MOSFETs 1-gen-2010 Morassi, Luca; Verzellesi, Giovanni; Padovani, Andrea; Larcher, Luca; Pavan, Paolo; D., Veksler; Injo, Ok; G., Bersuker
Analysis of RTN and cycling variability in HfO2 RRAM devices in LRS 1-gen-2014 Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo; Larcher, Luca; Padovani, Andrea
ANGELS - Smart Steering Wheel for Driver Safety 1-gen-2023 Amidei, A.; Rapa, P. M.; Tagliavini, G.; Rabbeni, R.; Pavan, P.; Benatti, S.
Bluetooth embedded systems for home automation 1-gen-2003 F., Bonizzi; G., Finelli; F., Giva; L., Sedoni; U., Manzoli; R., Morselli; Pavan, Paolo
Can NROM, a 2 Bit, Trapping Storage NVM Cell, Give a Real Challenge to Floating Gate Cells? 1-gen-1999 Eitan, B.; Pavan, Paolo; Bloom, I.; Aloni, E.; Frommer, A.
Carbon-doped GeTe Phase-Change Memory featuring remarkable RESET current reduction 1-gen-2010 G., Betti Beneventi; L., Perniola; A., Fantini; D., Blachier; A., Toffoli; E., Gourvest; S., Maitrejean; V., Sousa; C., Jahan; J. F., Nodin; A., Persico; S., Loubriat; A., Roule; S., Lhostis; H., Feldis; G., Reimbold; T., Billon; B., De Salvo; Larcher, Luca; Pavan, Paolo; D., Bensahel; P., Mazoyer; R., Annunziata; F., Boulanger
Characterization and Modeling of Low-Cost Contact-Mode Triboelectric Devices for Energy Harvesting 1-gen-2018 Bertacchini, A.; Lasagni, M.; Sereni, G.; Larcher, L.; Pavan, P.
Characterization and modelling of low-frequency noise in PCM devices 1-gen-2008 P., Fantini; G., Betti Beneventi; A., Calderoni; Larcher, Luca; Pavan, Paolo; F., Pellizzer
Characterization of anomalous Random Telegraph Noise in Resistive Random Access Memory 1-gen-2015 Puglisi, Francesco Maria; Larcher, Luca; Padovani, Andrea; Pavan, Paolo
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 142
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 142
Autore
  • LARCHER, Luca 69
  • PUGLISI, Francesco Maria 43
  • PADOVANI, ANDREA 36
  • BERTACCHINI, Alessandro 24
  • VERZELLESI, Giovanni 14
  • VANDELLI, LUCA 9
  • ZAGNI, NICOLO' 9
  • DONDI, Denis 8
  • SCORCIONI, Stefano 8
  • ZANOTTI, TOMMASO 8
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 60
  • 2000 - 2009 41
  • 1990 - 1999 24
Editore
  • IEEE 50
  • Institute of Electrical and Elect... 26
  • Editions Frontieres 7
  • IEEE Computer Society 7
  • IEEE - Institute of Electrical a... 3
  • IEEE - Institute of Electrical an... 3
  • ASM International 2
  • Computational Publications 2
  • NSTI 2
  • unknown 2
Rivista
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 2
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SO... 1
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 1
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 1
Serie
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 17
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 15
  • PROCEEDINGS OF THE ANNUAL CONFERE... 5
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 3
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • LECTURE NOTES OF THE INSTITUTE FO... 1
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 1
Keyword
  • RRAM 19
  • RTN 8
  • Compact Model 5
  • Defects 5
  • logistics 5
  • semiconductor device reliability 5
  • Electrical and Electronic Enginee... 4
  • Flash memories 4
  • Flash memory 4
  • HfO2 4
Lingua
  • eng 142
Accesso al fulltext
  • no fulltext 95
  • reserved 41
  • partially open 5
  • open 1