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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A new compact Spice-like model of E2PROM Memory cells suitable for DC and transient simulations 1-gen-2001 Larcher, Luca; Pavan, Paolo; Cuozzo, M.; Marmiroli, A.
A new experimental technique for extracting base resistance and characterizing current crowding phenomena in bipolar transistors 1-gen-1992 Verzellesi, Giovanni; L., Vendrame; R., Turetta; Pavan, Paolo; A., Chantre; A., Marty; M., Cavone; R., Rivoir; E., Zanoni
A new methodology for SEE testing and simulation 1-gen-2000 Pietri, S.; Pavan, Paolo; Iacono, S.; Striccoli, M.
A new verilog-A compact model of random telegraph noise in oxide-based RRAM for advanced circuit design 1-gen-2017 Puglisi, Francesco Maria; Zagni, Nicolo'; Larcher, Luca; Pavan, Paolo
A Physics-Based Model of the Dielectric Breakdown in HfO2 for Statistical Reliability Prediction 1-gen-2011 Vandelli, Luca; G., Bersuker; Padovani, Andrea; J. H., Yum; Larcher, Luca; Pavan, Paolo
A physics-based, accurate SPICE model of impact-ionization effects in bipolar transistors 1-gen-1994 E., Zanoni; A., Dal Fabbro; L., Vendrame; Verzellesi, Giovanni; G., Meneghesso; Pavan, Paolo; A., Chantre
A Solar Energy Harvesting Circuit for Low Power Applications 1-gen-2008 Dondi, Denis; Bertacchini, Alessandro; Larcher, Luca; Pavan, Paolo; D., Brunelli; L., Benini
A Unified Framework to Explain Random Telegraph Noise Complexity in MOSFETs and RRAMs 1-gen-2023 Vecchi, S.; Pavan, P.; Puglisi, F. M.
A Vibration-Powered Wireless System to Enhance Safety in Agricultural Machinery 1-gen-2011 Scorcioni, Stefano; Bertacchini, Alessandro; Dondi, Denis; Larcher, Luca; Pavan, Paolo; G., Mainardi
A wearable IEEE 802.15.4 system for logistics scenarios 1-gen-2007 Bonizzi, F; Sedoni, L; Sganzerla, D; Manzoli, U; Pavan, Paolo
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 142
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 142
Autore
  • LARCHER, Luca 69
  • PUGLISI, Francesco Maria 43
  • PADOVANI, ANDREA 36
  • BERTACCHINI, Alessandro 24
  • VERZELLESI, Giovanni 14
  • VANDELLI, LUCA 9
  • ZAGNI, NICOLO' 9
  • DONDI, Denis 8
  • SCORCIONI, Stefano 8
  • ZANOTTI, TOMMASO 8
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 60
  • 2000 - 2009 41
  • 1990 - 1999 24
Editore
  • IEEE 50
  • Institute of Electrical and Elect... 26
  • Editions Frontieres 7
  • IEEE Computer Society 7
  • IEEE - Institute of Electrical a... 3
  • IEEE - Institute of Electrical an... 3
  • ASM International 2
  • Computational Publications 2
  • NSTI 2
  • unknown 2
Rivista
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 2
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SO... 1
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 1
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 1
Serie
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 14
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 11
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 3
  • PROCEEDINGS OF THE ANNUAL CONFERE... 2
  • LECTURE NOTES OF THE INSTITUTE FO... 1
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 1
Keyword
  • RRAM 19
  • RTN 8
  • Compact Model 5
  • Defects 5
  • logistics 5
  • semiconductor device reliability 5
  • Electrical and Electronic Enginee... 4
  • Flash memories 4
  • Flash memory 4
  • HfO2 4
Lingua
  • eng 142
Accesso al fulltext
  • no fulltext 95
  • reserved 41
  • partially open 5
  • open 1