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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
The impact of interface states on the mobility and the drive current of III-V MOSFETs
2014 Osgnach, Patrik; Caruso, Enrico; Lizzit, Daniel; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca
The impact of longitudinal non-uniform Fin-thickness on quasi-ballistic transport in FinFETs
2008 Serra, N; Palestri, Pierpaolo; SMIT G. D., J; Selmi, Luca
The Monte Carlo approach to transport modeling in deca-nanometer MOSFETs
2007 Sangiorgi, E.; Palestri, P.; Esseni, D.; Fiegna, C.; Selmi, L.
The Monte Carlo approach to transport modeling in decananometer MOSFETs
2007 Sangiorgi, E; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Fiegna, C; Selmi, Luca
The scaling properties of CHISEL and CHE injection efficiency in MOSFETs and FLASH memory cells
1999 Esseni, David; Selmi, Luca; Ghetti, A; Sangiorgi, E.
Thermal Characterization of GaAs MESFETs by means of Pulsed Measurements
1991 Selmi, Luca; Ricco, B.
Three dimensional distribution of latch-up current in scaled CMOS structures
1987 Selmi, Luca; Venturi, F; Sangiorgi, Enrico; Ricco, B.
Toward computationally efficient Multi-Subband Monte Carlo simulations of nanoscale MOSFETs
2013 Osgnach, Patrik; Revelant, Alberto; Lizzit, Daniel; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca
Towards Microscopic Understanding of MOSFET Reliability: the Role of Carrier Energy and Transport Simulations
2003 Selmi, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo
Trading off static power and dynamic performance in CMOS digital circuits: bulk versus double gate SOI MOSFETs
2007 Agostinelli, Matteo; Alioto, M.; Esseni, David; Selmi, Luca
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Tipologia
- Atti di CONVEGNO 221
- Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 221
Data di pubblicazione
- 2020 - 2023 12
- 2010 - 2019 81
- 2000 - 2009 90
- 1990 - 1999 36
- 1987 - 1989 2
Editore
- IEEE 48
- Institute of Electrical and Elect... 27
- IEEE Computer Society 12
- ELSEVIER SCIENCE BV 2
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- DIEGM - Università degli Studi di... 1
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- Univeristy of Wuppertal 1
Rivista
- ECS TRANSACTIONS 3
- MICROELECTRONIC ENGINEERING 2
- PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 2
- SOLID-STATE ELECTRONICS 1
Serie
- PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 12
- TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 9
- PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 4
- INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMUL... 2
Keyword
- III-V compounds 3
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Lingua
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