The scaling properties of CHISEL and CHE injection efficiency in MOSFETs and FLASH memory cells / Esseni, David; Selmi, Luca; Ghetti, A; Sangiorgi, E.. - (1999), pp. 275-278. ((Intervento presentato al convegno International Electron Devices Meeting (IEDM), 1999 tenutosi a WASHINGTON (DC).

The scaling properties of CHISEL and CHE injection efficiency in MOSFETs and FLASH memory cells

SELMI, Luca;
1999

International Electron Devices Meeting (IEDM), 1999
WASHINGTON (DC)
275
278
Esseni, David; Selmi, Luca; Ghetti, A; Sangiorgi, E.
The scaling properties of CHISEL and CHE injection efficiency in MOSFETs and FLASH memory cells / Esseni, David; Selmi, Luca; Ghetti, A; Sangiorgi, E.. - (1999), pp. 275-278. ((Intervento presentato al convegno International Electron Devices Meeting (IEDM), 1999 tenutosi a WASHINGTON (DC).
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