The scaling properties of CHISEL and CHE injection efficiency in MOSFETs and FLASH memory cells / Esseni, David; Selmi, Luca; Ghetti, A; Sangiorgi, E.. - (1999), pp. 275-278. (Intervento presentato al convegno International Electron Devices Meeting (IEDM), 1999 tenutosi a WASHINGTON (DC)).
The scaling properties of CHISEL and CHE injection efficiency in MOSFETs and FLASH memory cells
SELMI, Luca;
1999
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