EnglishTowards Microscopic Understanding of MOSFET Reliability: the Role of Carrier Energy and Transport Simulations / Selmi, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo. - (2003), pp. 333-336. ((Intervento presentato al convegno International Electron Devices Meeting (IEDM) nel Dec.2003.
| Data di pubblicazione: | 2003 |
| Titolo: | Towards Microscopic Understanding of MOSFET Reliability: the Role of Carrier Energy and Transport Simulations |
| Autore/i: | Selmi, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo |
| Autore/i UNIMORE: | |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0842288261 |
| Codice identificativo ISI: | WOS:000189158800076 |
| Nome del convegno: | International Electron Devices Meeting (IEDM) |
| Data del convegno: | Dec.2003 |
| Pagina iniziale: | 333 |
| Pagina finale: | 336 |
| Citazione: | Towards Microscopic Understanding of MOSFET Reliability: the Role of Carrier Energy and Transport Simulations / Selmi, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo. - (2003), pp. 333-336. ((Intervento presentato al convegno International Electron Devices Meeting (IEDM) nel Dec.2003. |
| Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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http://hdl.handle.net/11380/1163350
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