Towards Microscopic Understanding of MOSFET Reliability: the Role of Carrier Energy and Transport Simulations / Selmi, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo. - (2003), pp. 333-336. ((Intervento presentato al convegno International Electron Devices Meeting (IEDM) nel Dec.2003.
Data di pubblicazione: | 2003 |
Titolo: | Towards Microscopic Understanding of MOSFET Reliability: the Role of Carrier Energy and Transport Simulations |
Autore/i: | Selmi, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo |
Autore/i UNIMORE: | |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0842288261 |
Codice identificativo ISI: | WOS:000189158800076 |
Nome del convegno: | International Electron Devices Meeting (IEDM) |
Data del convegno: | Dec.2003 |
Pagina iniziale: | 333 |
Pagina finale: | 336 |
Citazione: | Towards Microscopic Understanding of MOSFET Reliability: the Role of Carrier Energy and Transport Simulations / Selmi, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo. - (2003), pp. 333-336. ((Intervento presentato al convegno International Electron Devices Meeting (IEDM) nel Dec.2003. |
Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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