Towards Microscopic Understanding of MOSFET Reliability: the Role of Carrier Energy and Transport Simulations / Selmi, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo. - (2003), pp. 333-336. (Intervento presentato al convegno International Electron Devices Meeting (IEDM) tenutosi a Washington, DC, usa nel Dec.2003).

Towards Microscopic Understanding of MOSFET Reliability: the Role of Carrier Energy and Transport Simulations

SELMI, Luca;PALESTRI, Pierpaolo
2003
2003
International Electron Devices Meeting (IEDM)
Washington, DC, usa
Dec.2003
WOS:000189158800076
2-s2.0-0842288261
333
336
Selmi, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo
Towards Microscopic Understanding of MOSFET Reliability: the Role of Carrier Energy and Transport Simulations / Selmi, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo. - (2003), pp. 333-336. (Intervento presentato al convegno International Electron Devices Meeting (IEDM) tenutosi a Washington, DC, usa nel Dec.2003).
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