Towards Microscopic Understanding of MOSFET Reliability: the Role of Carrier Energy and Transport Simulations / Selmi, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo. - (2003), pp. 333-336. (Intervento presentato al convegno International Electron Devices Meeting (IEDM) nel Dec.2003).
Towards Microscopic Understanding of MOSFET Reliability: the Role of Carrier Energy and Transport Simulations
SELMI, Luca;
2003-01-01
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