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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Investigation of trapping/detrapping mechanisms in Al2O3 electron/hole traps and their influence on TANOS memory operations 1-gen-2010 Larcher, Luca; Padovani, Andrea; Vincenzo della, Marca; Pavan, Paolo; Bertacchini, Alessandro
Investigation on VTH and RON Slow/Fast Drifts in SiC MOSFETs 1-gen-2021 Cioni, M.; Bertacchini, A.; Mucci, A.; Verzellesi, G.; Pavan, P.; Chini, A.
Leakage current in HfO2 stacks: from physical to compact modeling 1-gen-2012 Larcher, Luca; Padovani, Andrea; Pavan, Paolo
Light emission microscopy as a tool for studying Si/SiO2 system degradation 1-gen-1995 Pavan, Paolo; A., Chantre; G., Dal Pos; L., Vendrame; M., Stucchi; A., Neviani; E., Zanoni
Low-Bit Precision Neural Network Architecture with High Immunity to Variability and Random Telegraph Noise based on Resistive Memories 1-gen-2021 Zanotti, Tommaso; Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo
Measurement of the electron impact-ionization coefficient in <100> GaAs at low electric fields by means of AlGaAs/GaAs Heterojunction Bipolar Transistors 1-gen-1993 C., Canali; R. J., Malik; A., Neviani; Pavan, Paolo; C., Tedesco; E., Zanoni
Measurements and simulation of avalanche breakdown in advanced Si bipolar transistors 1-gen-1992 E., Zanoni; E. F., Crabbe; J. M. C., Stork; Pavan, Paolo; Verzellesi, Giovanni; L., Vendrame; Canali, Claudio
Measurements of avalanche effects and light emission in advanced Si and SiGe bipolar transistors 1-gen-1993 Zanoni, E.; Bigliardi, S.; Pavan, P.; Pisoni, P.; Canali, C.
Modeling NAND Flash memories for circuit simulations 1-gen-2007 Larcher, Luca; Padovani, Andrea; I., Rimmaudo; Pavan, Paolo; A., Calderoni; G., Molteni; F., Gattel; P., Fantini
Modeling of the forming operation in HfO2-base resistive switching memories 1-gen-2011 Vandelli, Luca; Padovani, Andrea; Larcher, Luca; G., Bersuker; D., Gilmer; Pavan, Paolo
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 141
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 141
Autore
  • LARCHER, Luca 69
  • PUGLISI, Francesco Maria 42
  • PADOVANI, ANDREA 36
  • BERTACCHINI, Alessandro 24
  • VERZELLESI, Giovanni 13
  • VANDELLI, LUCA 9
  • DONDI, Denis 8
  • SCORCIONI, Stefano 8
  • ZAGNI, NICOLO' 8
  • ZANOTTI, TOMMASO 8
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 59
  • 2000 - 2009 41
  • 1990 - 1999 24
Editore
  • IEEE 50
  • Institute of Electrical and Elect... 25
  • Editions Frontieres 7
  • IEEE Computer Society 7
  • IEEE - Institute of Electrical a... 3
  • IEEE - Institute of Electrical an... 3
  • ASM International 2
  • Computational Publications 2
  • NSTI 2
  • unknown 2
Rivista
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 2
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SO... 1
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 1
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 1
Serie
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 17
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 15
  • PROCEEDINGS OF THE ANNUAL CONFERE... 5
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 3
  • IEEE International Integrated Rel... 1
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • LECTURE NOTES OF THE INSTITUTE FO... 1
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 1
Keyword
  • RRAM 19
  • RTN 8
  • Compact Model 5
  • Defects 5
  • logistics 5
  • semiconductor device reliability 5
  • Electrical and Electronic Enginee... 4
  • Flash memories 4
  • Flash memory 4
  • HfO2 4
Lingua
  • eng 141
Accesso al fulltext
  • no fulltext 94
  • reserved 41
  • partially open 5
  • open 1