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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Control of brushless DC motor with static redundancy for force-feedback in steer-by-wire applications 1-gen-2005 Bertacchini, Alessandro; Pavan, Paolo; Tamagnini, Luca; M., Mistrorigo
Control of Brushless Motor with Hybrid Redundancy for Force Feedback in Steer-by-Wire Applications 1-gen-2005 Bertacchini, Alessandro; Tamagnini, Luca; L., Fergnani; Pavan, Paolo
Control Structures and Physical Requirements for Steer-By-Wire Systems 1-gen-2003 Bertacchini, Alessandro; Morselli, Riccardo; Zanasi, Roberto; Pavan, Paolo; Bertoli, A.
Defect density evaluation in a high-k MOSFET gate stack combining experimental and modeling methods 1-gen-2014 Puglisi, Francesco Maria; Veksler, D.; Matthews, K.; Bersuker, G.; Larcher, Luca; Padovani, Andrea; Vandelli, Luca; Pavan, Paolo
Defects Motion as the Key Source of Random Telegraph Noise Instability in Hafnium Oxide 1-gen-2022 Vecchi, S.; Pavan, P.; Puglisi, F. M.
Dielectric Reliability for Future Logic and Non-Volatile Memory Applications: a Statistical Simulation Analysis Approach 1-gen-2007 Padovani, Andrea; Larcher, Luca; A., Chimenton; Pavan, Paolo; P., Olivo
Driver Drowsiness Detection based on Variation of Skin Conductance from Wearable Device 1-gen-2022 Amidei, A.; Poli, A.; Iadarola, G.; Tramarin, F.; Pavan, P.; Spinsante, S.; Rovati, L.
Effects of Border Traps on Transfer Curve Hysteresis and Split-CV Mobility Measurement in InGaAs Quantum-Well MOSFETs 1-gen-2016 Pavan, Paolo; Zagni, Nicolo'; Puglisi, Francesco Maria; Alian, Alireza; Thean, Aaron Voon Yew; Collaert, Nadine; Verzellesi, Giovanni
EmbTrack: A Wearable IEEE 802.15.4 Tracking System for Logistics 1-gen-2007 Bonizzi, F; Sedoni, L; Sganzerla, D; Manzoli, U; Pavan, Paolo
Endurance optimization in microFlash Memory Device 1-gen-2000 Aloni, E.; Gutman, M.; Roizin, Y.; Finzi, D.; Hyun, C. I.; Bloom, I.; Levy, D.; Lann, A.; Pavan, Paolo
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 142
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 142
Autore
  • LARCHER, Luca 69
  • PUGLISI, Francesco Maria 43
  • PADOVANI, ANDREA 36
  • BERTACCHINI, Alessandro 24
  • VERZELLESI, Giovanni 14
  • VANDELLI, LUCA 9
  • ZAGNI, NICOLO' 9
  • DONDI, Denis 8
  • SCORCIONI, Stefano 8
  • ZANOTTI, TOMMASO 8
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 60
  • 2000 - 2009 41
  • 1990 - 1999 24
Editore
  • IEEE 50
  • Institute of Electrical and Elect... 26
  • Editions Frontieres 7
  • IEEE Computer Society 7
  • IEEE - Institute of Electrical a... 3
  • IEEE - Institute of Electrical an... 3
  • ASM International 2
  • Computational Publications 2
  • NSTI 2
  • unknown 2
Rivista
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 2
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SO... 1
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 1
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 1
Serie
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 17
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 15
  • PROCEEDINGS OF THE ANNUAL CONFERE... 5
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 3
  • IEEE International Integrated Rel... 1
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • LECTURE NOTES OF THE INSTITUTE FO... 1
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 1
Keyword
  • RRAM 19
  • RTN 8
  • Compact Model 5
  • Defects 5
  • logistics 5
  • semiconductor device reliability 5
  • Electrical and Electronic Enginee... 4
  • Flash memories 4
  • Flash memory 4
  • HfO2 4
Lingua
  • eng 142
Accesso al fulltext
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