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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
250mV Input Boost Converter for Low Power Applications 1-gen-2010 Bertacchini, Alessandro; Scorcioni, Stefano; Cori, Marco Maria; Larcher, Luca; Pavan, Paolo
2D h-BN based RRAM devices 1-gen-2016 Puglisi, Francesco Maria; Larcher, Luca; Pan, C.; Xiao, N.; Shi, Y.; Hui, F.; Lanza, M.
A 1.4GHz – 2GHz Wideband CMOS Class-E Power Amplifier Delivering 22dBm peak with 67% PAE 1-gen-2005 Mazzanti, Andrea; Larcher, Luca; Brama, Riccardo; F., Svelto
A 1.7GHz 31dBm differential CMOS Class-E Power Amplifier with 58% PAE 1-gen-2007 Brama, Riccardo; Larcher, Luca; Mazzanti, Andrea; F., Svelto
A 28 GHz Scalable Beamforming System for 5G Automotive Connectivity: An Integrated Patch Antenna and Power Amplifier Solution 1-gen-2018 Aluigi, L.; Orecchini, G.; Larcher, L.
A 30.5 dBm 48% PAE CMOS class-E PA with integrated balun for RF applications 1-gen-2008 R., Brama; Larcher, Luca; Mazzanti, Andrea; F., Svelto
A 868MHz CMOS RF-DC Power Converter With -17dBm Input Power Sensitivity and Efficiency Higher Than 40% Over 14dB Input Power Range 1-gen-2012 Scorcioni, Stefano; Bertacchini, Alessandro; Larcher, Luca
A Compact Model of Hafnium-Oxide-Based Resistive Random Access Memory 1-gen-2013 Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo; Padovani, Andrea; Larcher, Luca
A complete study of SILC effects on E2PROM reliability 1-gen-2002 Larcher, L.; Bertulu, S.; Pavan, P.
A Complete Study of SILC Effects on EEPROM Reliability 1-gen-2002 Larcher, Luca; S., Bertulu; Pavan, Paolo
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 174
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 174
Autore
  • PADOVANI, ANDREA 91
  • PAVAN, Paolo 69
  • BERTACCHINI, Alessandro 27
  • VANDELLI, LUCA 21
  • PUGLISI, Francesco Maria 19
  • SCORCIONI, Stefano 14
  • DONDI, Denis 11
  • PIRROTTA, Onofrio 9
  • MAZZANTI, Andrea 6
  • MORASSI, LUCA 6
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 11
  • 2010 - 2019 115
  • 2000 - 2009 43
  • 1998 - 1999 5
Editore
  • IEEE 58
  • Institute of Electrical and Elect... 46
  • IEEE - Institute of Electrical a... 8
  • unknown 7
  • IEEE Computer Society 6
  • IEEE - Institute of Electrical an... 5
  • Unknown 3
  • Computational Publications 2
  • Editions Frontieres 2
  • NSTI 2
Rivista
  • ECS TRANSACTIONS 3
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 3
  • IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 2
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 1
  • IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON C... 1
Serie
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 26
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 11
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 9
  • PROCEEDINGS OF THE ANNUAL CONFERE... 4
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • PROCEEDINGS - DESIGN, AUTOMATION,... 1
  • PROCEEDINGS - IEEE INTERNATIONAL ... 1
  • PROCEEDINGS OF ESSCIRC 1
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 1
Keyword
  • RRAM 18
  • reliability 8
  • Energy Harvesting 7
  • high-k 7
  • Flash memory 6
  • CMOS technology 5
  • Defects 5
  • device reliability 5
  • Electrical and Electronic Enginee... 5
  • Flash memories 5
Lingua
  • eng 174
Accesso al fulltext
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