NOBILI, Carlo Emanuele

NOBILI, Carlo Emanuele  

Dipartimento di Scienze Fisiche, Informatiche e Matematiche  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Copper–titanium thin film interaction 1-gen-2004 L., Castoldi; G., Visalli; S., Morin; P., Ferrari; S., Alberici; Ottaviani, Giampiero; Corni, Federico; Tonini, Rita; Nobili, Carlo Emanuele; M., Bersani
Damage evolution in helium-hydrogen co-implanted (100) silicon 1-gen-2002 Tonini, Rita; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Cazzaniga, F; Queirolo, G.
Early stages of bubble formation in helium-implated (100) silicon 1-gen-2003 B., Pivac; O., Milat; P., Dubcek; S., Bernstorff; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita
Evolution of defect profiles in He-implanted silicon studied by slow positrons 1-gen-1997 Brusa, Rs; Karwasz, Gp; Tiengo, N; Zecca, A; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita
Evolution of vacancy-like defects in He-implanted (100) Si studied by thermal desorption spectrometry 1-gen-2000 Corni, Federico; G., Calzolari; Gambetta, Francesca; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita; Zapparoli, Mauro
He-implantation induced defects in Si studied by slow positron annihilation spectroscopy 1-gen-1999 Brusa, Rs; Karwasz, Gp; Tiengo, N; Zecca, A; Corni, Federico; Calzolari, G; Nobili, Carlo Emanuele
Helium in silicon: Thermal-desorption investigation of bubble precursors 1-gen-1997 Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita; Calzolari, G; Cerofolini, Gf; Queirolo, G.
Helium-implanted silicon: A study of bubble precursors 1-gen-1999 Corni, Federico; Calzolari, G; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita; Cerofolini, Gf; Leone, D; Servidori, M; Brusa, Rs; Karwasz, Gp; Tiengo, N; Zecca, A.
Helium/deuterium co-implanted silicon – a thermal desorption spectrometry investigation 1-gen-2001 Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita; Ottaviani, Giampiero; Tonelli, Massimo
Hydrogen and helium bubbles in silicon 1-gen-2000 G. F., Cerofolini; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita
Nanovoid formationin helium-implanted single-crystal silicon studied by in situ techniques 1-gen-2004 Frabboni, Stefano; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita; Ottaviani, Giampiero
Out- and in-diffusion of oxygen in YBa2Cu3O7 - x oxide 1-gen-1989 Ottaviani, G.; Nobili, C.; Nava, F.; Affronte, M.; Manfredini, T.; Matacotta, F. C.; Galli, E.
Oxygen in-diffusion processes in tetragonal YBa2Cu3O7-x oxide 1-gen-1989 Ottaviani, G.; Nobili, C.; Nava, F.; Affronte, M.; Manfredini, T.; Matacotta, F. C.; Galli, E.
Thermal desorption spectra from cavities in helium-implanted silicon 1-gen-2000 Cerofolini, Gf; Calzolari, G; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita
Transmission electron microscopy study of helium implanted silicon 1-gen-2018 Frabboni, Stefano; Corni, Federico; Tonini, Rita; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero
Transmission Electron Microscopy study of Helium Implanted Silicon 1-gen-2004 Frabboni, S.; Corni, F.; Tonini, R.; Nobili, C.; Ottaviani, G.
Ultradense gas bubbles in Hydrogen- or Helium-implanted (or co-implanted) Silicon 1-gen-2000 Cerofolini, G. F.; Calzolari, G.; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita
Vacancy-gettering in silicon: Cavities and helium-implantation 1-gen-1999 Corni, Federico; Tonini, Rita; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Calzolari, G; Masetti, S; Tamarozzi, P; Pavia, G; Cerofolini, Gf
Visible luminescence from silicon by hydrogen implantation and annealing treatments 1-gen-1994 Pavesi, L; Giebel, G; Tonini, Rita; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero
Visible photoluminescence from He‐implanted silicon 1-gen-1995 D., Bisero; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita; Ottaviani, Giampiero; C., Mazzoleni; L., Pavesi