NOBILI, Carlo Emanuele
NOBILI, Carlo Emanuele
Dipartimento di Scienze Fisiche, Informatiche e Matematiche
Copper–titanium thin film interaction
2004 L., Castoldi; G., Visalli; S., Morin; P., Ferrari; S., Alberici; Ottaviani, Giampiero; Corni, Federico; Tonini, Rita; Nobili, Carlo Emanuele; M., Bersani
Damage evolution in helium-hydrogen co-implanted (100) silicon
2002 Tonini, Rita; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Cazzaniga, F; Queirolo, G.
Early stages of bubble formation in helium-implated (100) silicon
2003 B., Pivac; O., Milat; P., Dubcek; S., Bernstorff; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita
Evolution of defect profiles in He-implanted silicon studied by slow positrons
1997 Brusa, Rs; Karwasz, Gp; Tiengo, N; Zecca, A; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita
Evolution of vacancy-like defects in He-implanted (100) Si studied by thermal desorption spectrometry
2000 Corni, Federico; G., Calzolari; Gambetta, Francesca; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita; Zapparoli, Mauro
He-implantation induced defects in Si studied by slow positron annihilation spectroscopy
1999 Brusa, Rs; Karwasz, Gp; Tiengo, N; Zecca, A; Corni, Federico; Calzolari, G; Nobili, Carlo Emanuele
Helium in silicon: Thermal-desorption investigation of bubble precursors
1997 Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita; Calzolari, G; Cerofolini, Gf; Queirolo, G.
Helium-implanted silicon: A study of bubble precursors
1999 Corni, Federico; Calzolari, G; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita; Cerofolini, Gf; Leone, D; Servidori, M; Brusa, Rs; Karwasz, Gp; Tiengo, N; Zecca, A.
Helium/deuterium co-implanted silicon – a thermal desorption spectrometry investigation
2001 Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita; Ottaviani, Giampiero; Tonelli, Massimo
Hydrogen and helium bubbles in silicon
2000 G. F., Cerofolini; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita
Nanovoid formationin helium-implanted single-crystal silicon studied by in situ techniques
2004 Frabboni, Stefano; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita; Ottaviani, Giampiero
Out- and in-diffusion of oxygen in YBa2Cu3O7 - x oxide
1989 Ottaviani, G.; Nobili, C.; Nava, F.; Affronte, M.; Manfredini, T.; Matacotta, F. C.; Galli, E.
Oxygen in-diffusion processes in tetragonal YBa2Cu3O7-x oxide
1989 Ottaviani, G.; Nobili, C.; Nava, F.; Affronte, M.; Manfredini, T.; Matacotta, F. C.; Galli, E.
Thermal desorption spectra from cavities in helium-implanted silicon
2000 Cerofolini, Gf; Calzolari, G; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita
Transmission electron microscopy study of helium implanted silicon
2018 Frabboni, Stefano; Corni, Federico; Tonini, Rita; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero
Transmission Electron Microscopy study of Helium Implanted Silicon
2004 Frabboni, S.; Corni, F.; Tonini, R.; Nobili, C.; Ottaviani, G.
Ultradense gas bubbles in Hydrogen- or Helium-implanted (or co-implanted) Silicon
2000 Cerofolini, G. F.; Calzolari, G.; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita
Vacancy-gettering in silicon: Cavities and helium-implantation
1999 Corni, Federico; Tonini, Rita; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Calzolari, G; Masetti, S; Tamarozzi, P; Pavia, G; Cerofolini, Gf
Visible luminescence from silicon by hydrogen implantation and annealing treatments
1994 Pavesi, L; Giebel, G; Tonini, Rita; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero
Visible photoluminescence from He‐implanted silicon
1995 D., Bisero; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita; Ottaviani, Giampiero; C., Mazzoleni; L., Pavesi
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Copper–titanium thin film interaction | 1-gen-2004 | L., Castoldi; G., Visalli; S., Morin; P., Ferrari; S., Alberici; Ottaviani, Giampiero; Corni, Federico; Tonini, Rita; Nobili, Carlo Emanuele; M., Bersani | |
Damage evolution in helium-hydrogen co-implanted (100) silicon | 1-gen-2002 | Tonini, Rita; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Cazzaniga, F; Queirolo, G. | |
Early stages of bubble formation in helium-implated (100) silicon | 1-gen-2003 | B., Pivac; O., Milat; P., Dubcek; S., Bernstorff; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita | |
Evolution of defect profiles in He-implanted silicon studied by slow positrons | 1-gen-1997 | Brusa, Rs; Karwasz, Gp; Tiengo, N; Zecca, A; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita | |
Evolution of vacancy-like defects in He-implanted (100) Si studied by thermal desorption spectrometry | 1-gen-2000 | Corni, Federico; G., Calzolari; Gambetta, Francesca; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita; Zapparoli, Mauro | |
He-implantation induced defects in Si studied by slow positron annihilation spectroscopy | 1-gen-1999 | Brusa, Rs; Karwasz, Gp; Tiengo, N; Zecca, A; Corni, Federico; Calzolari, G; Nobili, Carlo Emanuele | |
Helium in silicon: Thermal-desorption investigation of bubble precursors | 1-gen-1997 | Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita; Calzolari, G; Cerofolini, Gf; Queirolo, G. | |
Helium-implanted silicon: A study of bubble precursors | 1-gen-1999 | Corni, Federico; Calzolari, G; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita; Cerofolini, Gf; Leone, D; Servidori, M; Brusa, Rs; Karwasz, Gp; Tiengo, N; Zecca, A. | |
Helium/deuterium co-implanted silicon – a thermal desorption spectrometry investigation | 1-gen-2001 | Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita; Ottaviani, Giampiero; Tonelli, Massimo | |
Hydrogen and helium bubbles in silicon | 1-gen-2000 | G. F., Cerofolini; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita | |
Nanovoid formationin helium-implanted single-crystal silicon studied by in situ techniques | 1-gen-2004 | Frabboni, Stefano; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita; Ottaviani, Giampiero | |
Out- and in-diffusion of oxygen in YBa2Cu3O7 - x oxide | 1-gen-1989 | Ottaviani, G.; Nobili, C.; Nava, F.; Affronte, M.; Manfredini, T.; Matacotta, F. C.; Galli, E. | |
Oxygen in-diffusion processes in tetragonal YBa2Cu3O7-x oxide | 1-gen-1989 | Ottaviani, G.; Nobili, C.; Nava, F.; Affronte, M.; Manfredini, T.; Matacotta, F. C.; Galli, E. | |
Thermal desorption spectra from cavities in helium-implanted silicon | 1-gen-2000 | Cerofolini, Gf; Calzolari, G; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita | |
Transmission electron microscopy study of helium implanted silicon | 1-gen-2018 | Frabboni, Stefano; Corni, Federico; Tonini, Rita; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero | |
Transmission Electron Microscopy study of Helium Implanted Silicon | 1-gen-2004 | Frabboni, S.; Corni, F.; Tonini, R.; Nobili, C.; Ottaviani, G. | |
Ultradense gas bubbles in Hydrogen- or Helium-implanted (or co-implanted) Silicon | 1-gen-2000 | Cerofolini, G. F.; Calzolari, G.; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita | |
Vacancy-gettering in silicon: Cavities and helium-implantation | 1-gen-1999 | Corni, Federico; Tonini, Rita; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Calzolari, G; Masetti, S; Tamarozzi, P; Pavia, G; Cerofolini, Gf | |
Visible luminescence from silicon by hydrogen implantation and annealing treatments | 1-gen-1994 | Pavesi, L; Giebel, G; Tonini, Rita; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero | |
Visible photoluminescence from He‐implanted silicon | 1-gen-1995 | D., Bisero; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita; Ottaviani, Giampiero; C., Mazzoleni; L., Pavesi |