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ELECTRON AND ION-BEAM ANALYSIS OF COMPOSITION AND STRAIN IN SI1-XGEX SI HETEROSTRUCTURES 1-gen-1994 Armigliato, A; Govoni, D; Balboni, R; Frabboni, Stefano; Berti, M; Romanato, F; Drigo, Av
Influence of experimental parameters on the determination of tetragonal distortion in heterostructures by LACBED 1-gen-1995 Armigliato, A; Balboni, R; Corticelli, F; Frabboni, Stefano
ANALYTICAL ELECTRON-MICROSCOPY OF SI1-XGEX/SI HETEROSTRUCTURES AND LOCAL ISOLATION STRUCTURES 1-gen-1995 Armigliato, A; Balboni, R; Corticelli, F; Frabboni, Stefano; Malvezzi, F.
Hydrogen precipitation in highly oversaturated single-crystalline silicon 1-gen-1995 Cerofolini, Gf; Balboni, R; Bisero, D; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita; Brusa, Rs; Zecca, A; Ceschini, M; Giebel, G; Pavesi, L.
Bulk mismatch values of heterostructures as determined from convergent beam electron diffraction on thin cross sections 1-gen-1996 Balboni, R; Armigliato, A; Frabboni, Stefano
Transmission Electron diffraction techniques for nm scale measurement in semiconductors 1-gen-1996 J., Vanhellemont; K. G. F., Janssens; Frabboni, Stefano; R., Balboni; A., Armigliato
Silicon interstitials generation during the exposure of silicon to hydrogen plasma 1-gen-1996 Tonini, Rita; Monelli, A; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Ottaviani, Giampiero; Queirolo, G.
Stress and interface morphology contributions in the crystallization kinetics of a GexSi1-x thin layer on (100)Si 1-gen-1996 Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Tonini, Rita; Ottaviani, Giampiero; Queirolo, G.
Strain in silicon below Si3N4 stripes, comparison between SUPREM IV calculation and TEM/CBED measurements 1-gen-1997 Armigliato, A; Balboni, R; Frabboni, Stefano; Tixier, A; Carnevale, Gp; Colpani, P; Marmiroli, A.
Effects of static disorder on LACBED patterns of single crystal silicon implanted with hydrogen 1-gen-1997 Frabboni, Stefano; Gambetta, F; Tonini, Rita; Balboni, R; Armigliato, A.
Strain measurements in thin film structures by convergent beam electron diffraction 1-gen-1997 Armigliato, A; Balboni, R; Benedetti, A; Frabboni, Stefano; Tixier, A; Vanhellemont, J.
High-dose helium-implanted single-crystal silicon: Annealing behavior 1-gen-1998 Tonini, Rita; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Ottaviani, Giampiero; Cerofolini, G. F.
On the spatial resolution in analytical electron microscopy 1-gen-1998 Armigliato, A; Howard, Dj; Balboni, R; Frabboni, Stefano; Caymax, Mr
Static disorder depth profile in ion implanted materials by means of large angle convergent beam electron diffraction 1-gen-1998 Frabboni, Stefano; F., Gambetta
The effect of biaxial stress on the solid phase epitaxial crystallization of GexSi((1-x)) films 1-gen-1998 Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Tonini, Rita; Leone, D; de Boer, W; Gasparotto, A.
Growth kinetics of a displacement field in hydrogen implanted single crystalline silicon 1-gen-1998 D., Bisero; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Tonini, Rita; Ottaviani, Giampiero; R., Balboni
Determination of bulk mismatch values in transmission electron microscopy cross-sections of heterostructures by convergent-beam electron diffraction 1-gen-1998 Balboni, R; Frabboni, Stefano; Armigliato, A.
Helium-implanted silicon: A study of bubble precursors 1-gen-1999 Corni, Federico; Calzolari, G; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita; Cerofolini, Gf; Leone, D; Servidori, M; Brusa, Rs; Karwasz, Gp; Tiengo, N; Zecca, A.
Strain determination in submicron isolation structures by TEM/CBED 1-gen-1999 Armigliato, A; Balboni, R; Balboni, S; Frabboni, Stefano; Tixier, A; Carnevale, Gp; Colpani, P; Pavia, G; Marmiroli, A.
Influence of the first preparation steps on the properties of GaN layers grown on 6H-SiC by MBE 1-gen-1999 Lantier, R; Rizzi, A; Guggi, D; Luth, H; Neubauer, B; Gerthsen, D; Frabboni, Stefano; Coli, G; Cingolani, R.
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