Transmission Electron diffraction techniques for nm scale measurement in semiconductors / J., Vanhellemont; K. G. F., Janssens; Frabboni, Stefano; R., Balboni; A., Armigliato. - STAMPA. - 405(1996), pp. 435-446. ((Intervento presentato al convegno MRS Fall Meeting tenutosi a Boston nel ottobre 1996.
Data di pubblicazione: | 1996 |
Titolo: | Transmission Electron diffraction techniques for nm scale measurement in semiconductors |
Autore/i: | J., Vanhellemont; K. G. F., Janssens; Frabboni, Stefano; R., Balboni; A., Armigliato |
Autore/i UNIMORE: | |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0029726504 |
Nome del convegno: | MRS Fall Meeting |
Luogo del convegno: | Boston |
Data del convegno: | ottobre 1996 |
Volume: | 405 |
Pagina iniziale: | 435 |
Pagina finale: | 446 |
Citazione: | Transmission Electron diffraction techniques for nm scale measurement in semiconductors / J., Vanhellemont; K. G. F., Janssens; Frabboni, Stefano; R., Balboni; A., Armigliato. - STAMPA. - 405(1996), pp. 435-446. ((Intervento presentato al convegno MRS Fall Meeting tenutosi a Boston nel ottobre 1996. |
Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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