Transmission Electron diffraction techniques for nm scale measurement in semiconductors / J., V., K. G. F., J., Frabboni, S., R., B., A., A.. - STAMPA. - 405:(1996), pp. 435-446. (MRS Fall Meeting Boston ottobre 1996).
Transmission Electron diffraction techniques for nm scale measurement in semiconductors
FRABBONI, Stefano;
1996
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