Transmission Electron diffraction techniques for nm scale measurement in semiconductors

Vanhellemont, J.; Janssens, K. G. F.; Frabboni, Stefano; Balboni, R.; Armigliato, A.

Transmission Electron diffraction techniques for nm scale measurement in semiconductors / J., Vanhellemont; K. G. F., Janssens; Frabboni, Stefano; R., Balboni; A., Armigliato. - STAMPA. - 405(1996), pp. 435-446. ((Intervento presentato al convegno MRS Fall Meeting tenutosi a Boston nel ottobre 1996.

Data di pubblicazione:	1996
Titolo:	Transmission Electron diffraction techniques for nm scale measurement in semiconductors
Autore/i:	J., Vanhellemont; K. G. F., Janssens; Frabboni, Stefano; R., Balboni; A., Armigliato
Autore/i UNIMORE:	J. Vanhellemont K. G. F. Janssens FRABBONI, Stefano R. Balboni A. Armigliato mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Codice identificativo Scopus:	2-s2.0-0029726504
Nome del convegno:	MRS Fall Meeting
Luogo del convegno:	Boston
Data del convegno:	ottobre 1996
Volume:	405
Pagina iniziale:	435
Pagina finale:	446
Citazione:	Transmission Electron diffraction techniques for nm scale measurement in semiconductors / J., Vanhellemont; K. G. F., Janssens; Frabboni, Stefano; R., Balboni; A., Armigliato. - STAMPA. - 405(1996), pp. 435-446. ((Intervento presentato al convegno MRS Fall Meeting tenutosi a Boston nel ottobre 1996.
Tipologia	Relazione in Atti di Convegno

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http://hdl.handle.net/11380/598231

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