EnglishTransmission Electron diffraction techniques for nm scale measurement in semiconductors / J. Vanhellemont; K.G.F.Janssens; S. Frabboni; R. Balboni and A. Armigliato. - STAMPA. - 405(1996), pp. 435-446. ((Intervento presentato al convegno MRS Fall Meeting tenutosi a Boston nel ottobre 1996.
| Data di pubblicazione: | 1996 |
| Titolo: | Transmission Electron diffraction techniques for nm scale measurement in semiconductors |
| Autore/i: | J. Vanhellemont; K.G.F.Janssens; S. Frabboni; R. Balboni and A. Armigliato |
| Autore/i UNIMORE: | |
| Nome del convegno: | MRS Fall Meeting |
| Luogo del convegno: | Boston |
| Data del convegno: | ottobre 1996 |
| Citazione: | Transmission Electron diffraction techniques for nm scale measurement in semiconductors / J. Vanhellemont; K.G.F.Janssens; S. Frabboni; R. Balboni and A. Armigliato. - STAMPA. - 405(1996), pp. 435-446. ((Intervento presentato al convegno MRS Fall Meeting tenutosi a Boston nel ottobre 1996. |
| Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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