Transmission Electron diffraction techniques for nm scale measurement in semiconductors / J., Vanhellemont; K. G. F., Janssens; Frabboni, Stefano; R., Balboni; A., Armigliato. - STAMPA. - 405:(1996), pp. 435-446. (Intervento presentato al convegno MRS Fall Meeting tenutosi a Boston nel ottobre 1996).
Transmission Electron diffraction techniques for nm scale measurement in semiconductors
FRABBONI, Stefano;
1996
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