ItalianoFRABBONI, Stefano
Pubblicazioni
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | |
|---|---|---|---|
| 11 | A 4096-pixel MAPS detector used to investigate the single-electron distribution in a Young–Feynman two-slit interference experiment | 2013 | Gabrielli, A.; Giorgi, F. M.; Semprini, N.; Villa, M.; Zoccoli, A.; Matteucci, G.; Pozzi, G.; Frabboni, Stefano; Gazzadi, gian carlo |
| 12 | A novel Monte-Carlo based method for quantitative thin film X-ray microanalysis | 2000 | Armigliato, A; Balboni, R; Frabboni, Stefano; Rosa, R. |
| 13 | Adsorption equilibria and kinetics of H2 at nearly ideal (2 x 1) Si(1 0 0) inner surfaces | 2010 | G. F., Cerofolini; E., Romano; D., Narducci; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita |
| 14 | Alloy multilayers and ternary nanostructures by direct-write approach | 2017 | Porrati, F.; Sachser, R.; Gazzadi, G. C.; Frabboni, S.; Terfort, A.; Huth, M. |
| 15 | Analysis of localised strains by convergent beam electron diffraction | 2004 | A., Armigliato; R., Balboni; A., Benedetti; Frabboni, Stefano |
| 16 | ANALYTICAL ELECTRON-MICROSCOPY OF SI1-XGEX/SI HETEROSTRUCTURES AND LOCAL ISOLATION STRUCTURES | 1995 | Armigliato, A; Balboni, R; Corticelli, F; Frabboni, Stefano; Malvezzi, F. |
| 17 | Application of a HEPE-oriented 4096-MAPS to time analysis of single electron distribution in a two-slits interference experiment | 2011 | A., Gabrielli; F., Giorgi; N., Semprini Cesari; M., Villa; A., Zoccoli; G., Matteucci; G., Pozzi; Frabboni, Stefano; Gazzadi, gian carlo |
| 18 | Application of convergent beam electron diffraction to two-dimensional strain mapping in silicon devices | 2003 | A., Armigliato; R., Balboni; Gp, Carnevale; G., Pavia; D., Piccolo; Frabboni, Stefano; A., Benedetti; Ag, Cullis |
| 19 | Assembly and Fine Analysis of Ni/MgO Core/Shell Nanoparticles | 2011 | D'Addato, Sergio; Vincenzo, Grillo; Altieri, Salvatore; Frabboni, Stefano; Francesca, Rossi; Valeri, Sergio |
| 20 | Assembly and structure of Ni/NiO core–shell nanoparticles | 2012 | D'Addato, Sergio; Vincenzo, Grillo; Altieri, Salvatore; Frabboni, Stefano; Valeri, Sergio |
| 21 | Build-up of interference patterns with single electrons | 2013 | Giorgio, Matteucci; Michele, Pezzi; Giulio, Pozzi; Gian Luigi, Alberghi; Filippo, Giorgi; Alessandro, Gabrielli; Nicola Semprini, Cesari; Mauro, Villa; Antonio, Zoccoli; Frabboni, Stefano; Gazzadi, gian carlo |
| 22 | Bulk mismatch values of heterostructures as determined from convergent beam electron diffraction on thin cross sections | 1996 | Balboni, R; Armigliato, A; Frabboni, Stefano |
| 23 | CBED STRAIN-MEASUREMENTS IN BORON IMPLANTED SILICON | 1991 | Balboni, R; Frabboni, Stefano |
| 24 | Characterization of a new cobalt precursor for focused beam deposition of magnetic nanostructures | 2011 | Gazzadi, gian carlo; J. J. L., Mulders; P., Trompenaars; Ghirri, Alberto; Rota, Alberto; Affronte, Marco; Frabboni, Stefano |
| 25 | Combined HREM and theoretical analysis of SiC/Si interface | 2003 | V., Grillo; Frabboni, Stefano; G., Cicero; G., Savini; AND A., Catellani |
| 26 | Comparison of Cliff-Lorimer-Based Methods of Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Quantitative X-Ray Microanalysis for Application to Silicon Oxycarbides Thin Films | 2018 | Parisini, Andrea; Frabboni, Stefano; Gazzadi, Gian Carlo; Rosa, Rodolfo; Armigliato, Aldo |
| 27 | Contrast of small SiX particles in silicon by computed HREM images | 1988 | Armigliato, A; Bourret, A; Frabboni, Stefano; Parisini, A. |
| 28 | Controlled co-deposition of FePt nanoparticles embedded in MgO: a detailed investigation of structure and electronic and magnetic properties | 2013 | D'Addato, Sergio; V., Grillo; A., di Bona; P., Luches; Frabboni, Stefano; Valeri, Sergio; P., Lupo; F., Casoli; F., Albertini |
| 29 | Controlled growth of Ni/NiO core–shell nanoparticles: Structure, morphology and tuning of magnetic properties | 2014 | D'Addato, Sergio; Spadaro, MARIA CHIARA; Luches, Paola; Grillo, V.; Frabboni, Stefano; Valeri, Sergio; Ferretti, A. M.; Capetti, E.; Ponti, A. |
| 30 | Convergent beam electron diffraction investigation of strain induced by Ti self-aligned silicides in shallow trench Si isolation structures | 2006 | Armigliato, A; Spessot, A; Balboni, R; Benedetti, A; Carnevale, G; Frabboni, Stefano; Mastracchio, G; Pavia, G. |
Dettaglio
FRABBONI, Stefano
Dipartimento di Scienze Fisiche, Informatiche e Matematiche
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