FRABBONI, Stefano

FRABBONI, Stefano  

Dipartimento di Scienze Fisiche, Informatiche e Matematiche  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A 4096-pixel MAPS detector used to investigate the single-electron distribution in a Young–Feynman two-slit interference experiment 1-gen-2013 Gabrielli, A.; Giorgi, F. M.; Semprini, N.; Villa, M.; Zoccoli, A.; Matteucci, G.; Pozzi, G.; Frabboni, Stefano; Gazzadi, gian carlo
A novel Monte-Carlo based method for quantitative thin film X-ray microanalysis 1-gen-2000 Armigliato, A; Balboni, R; Frabboni, Stefano; Rosa, R.
Adsorption equilibria and kinetics of H2 at nearly ideal (2 x 1) Si(1 0 0) inner surfaces 1-gen-2010 G. F., Cerofolini; E., Romano; D., Narducci; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita
Alignment of electron optical beam shaping elements using a convolutional neural network 1-gen-2021 Rotunno, E.; Tavabi, A. H.; Rosi, P.; Frabboni, S.; Tiemeijer, P.; Dunin-Borkowski, R. E.; Grillo, V.
Alloy multilayers and ternary nanostructures by direct-write approach 1-gen-2017 Porrati, F.; Sachser, R.; Gazzadi, G. C.; Frabboni, S.; Terfort, A.; Huth, M.
Analysis of localised strains by convergent beam electron diffraction 1-gen-2004 A., Armigliato; R., Balboni; A., Benedetti; Frabboni, Stefano
ANALYTICAL ELECTRON-MICROSCOPY OF SI1-XGEX/SI HETEROSTRUCTURES AND LOCAL ISOLATION STRUCTURES 1-gen-1995 Armigliato, A; Balboni, R; Corticelli, F; Frabboni, Stefano; Malvezzi, F.
Application of a HEPE-oriented 4096-MAPS to time analysis of single electron distribution in a two-slits interference experiment 1-gen-2011 A., Gabrielli; F., Giorgi; N., Semprini Cesari; M., Villa; A., Zoccoli; G., Matteucci; G., Pozzi; Frabboni, Stefano; Gazzadi, gian carlo
Application of convergent beam electron diffraction to two-dimensional strain mapping in silicon devices 1-gen-2003 A., Armigliato; R., Balboni; Gp, Carnevale; G., Pavia; D., Piccolo; Frabboni, Stefano; A., Benedetti; Ag, Cullis
Assembly and Fine Analysis of Ni/MgO Core/Shell Nanoparticles 1-gen-2011 D'Addato, Sergio; Vincenzo, Grillo; Altieri, Salvatore; Frabboni, Stefano; Francesca, Rossi; Valeri, Sergio
Assembly and structure of Ni/NiO core–shell nanoparticles 1-gen-2012 D'Addato, Sergio; Vincenzo, Grillo; Altieri, Salvatore; Frabboni, Stefano; Valeri, Sergio
Build-up of interference patterns with single electrons 1-gen-2013 Giorgio, Matteucci; Michele, Pezzi; Giulio, Pozzi; Gian Luigi, Alberghi; Filippo, Giorgi; Alessandro, Gabrielli; Nicola Semprini, Cesari; Mauro, Villa; Antonio, Zoccoli; Frabboni, Stefano; Gazzadi, gian carlo
Bulk mismatch values of heterostructures as determined from convergent beam electron diffraction on thin cross sections 1-gen-1996 Balboni, R; Armigliato, A; Frabboni, Stefano
CBED STRAIN-MEASUREMENTS IN BORON IMPLANTED SILICON 1-gen-1991 Balboni, R; Frabboni, Stefano
Characterization of a new cobalt precursor for focused beam deposition of magnetic nanostructures 1-gen-2011 Gazzadi, gian carlo; J. J. L., Mulders; P., Trompenaars; Ghirri, Alberto; Rota, Alberto; Affronte, Marco; Frabboni, Stefano
Combination of Electron Energy-loss Spectroscopy and Orbital Angular Momentum Spectroscopy. Applications to Electron Magnetic Chiral Dichroism, Plasmon-loss, and Core-loss 1-gen-2020 Bertoni, G.; Rotunno, E.; Tavabi, A.; Zanfrognini, M.; Rosi, P.; Frabboni, S.; Karimi, E.; Dunin-Borkowski, R.; Grillo, V.
Combined HREM and theoretical analysis of SiC/Si interface 1-gen-2003 V., Grillo; Frabboni, Stefano; G., Cicero; G., Savini; AND A., Catellani
Combined HREM and theoretical analysis of SiC/Si interfaces 1-gen-2018 Grillo, V.; Frabboni, S.; Cicero, G.; Savini, G.; Catellani, A.
Combined HREM and theoretical analysis of SiC/Si interfaces 1-gen-2004 Grille, V.; Frabboni, S.; Cicero, G.; Savini, G.; Catellani, A.
Comparison of Cliff-Lorimer-Based Methods of Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Quantitative X-Ray Microanalysis for Application to Silicon Oxycarbides Thin Films 1-gen-2018 Parisini, Andrea; Frabboni, Stefano; Gazzadi, Gian Carlo; Rosa, Rodolfo; Armigliato, Aldo