Challenging Point Scanning across Electron Microscopy and Optical Imaging using Computational Imaging / Kallepalli, A., Viani, L., Stellinga, D., Rotunno, E., Bowman, R., Gibson, G.M., Sun, M., Rosi, P., Frabboni, S., Balboni, R., Migliori, A., Grillo, V., Padgett, M.J.. - In: INTELLIGENT COMPUTING. - ISSN 2771-5892. - 2022:(2022), pp. 1-9. [10.34133/icomputing.0001]

Challenging Point Scanning across Electron Microscopy and Optical Imaging using Computational Imaging

Viani, Lorenzo;Rosi, Paolo;Frabboni, Stefano;Grillo, Vincenzo;
2022
2022
2022
1
9
WOS:001406438600005
2-s2.0-85151828654
Challenging Point Scanning across Electron Microscopy and Optical Imaging using Computational Imaging / Kallepalli, A., Viani, L., Stellinga, D., Rotunno, E., Bowman, R., Gibson, G.M., Sun, M., Rosi, P., Frabboni, S., Balboni, R., Migliori, A., Grillo, V., Padgett, M.J.. - In: INTELLIGENT COMPUTING. - ISSN 2771-5892. - 2022:(2022), pp. 1-9. [10.34133/icomputing.0001]
Kallepalli, Akhil; Viani, Lorenzo; Stellinga, Daan; Rotunno, Enzo; Bowman, Richard; Gibson, Graham M.; Sun, Ming-Jie; Rosi, Paolo; Frabboni, Stefano; ...espandi
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