VIANI, LORENZO
VIANI, LORENZO
Dipartimento di Scienze Fisiche, Informatiche e Matematiche
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Challenging Point Scanning across Electron Microscopy and Optical Imaging using Computational Imaging
2022 Kallepalli, Akhil; Viani, Lorenzo; Stellinga, Daan; Rotunno, Enzo; Bowman, Richard; Gibson, Graham M.; Sun, Ming-Jie; Rosi, Paolo; Frabboni, Stefano; Balboni, Roberto; Migliori, Andrea; Grillo, Vincenzo; Padgett, Miles J.
Enhancing Electron Computational Ghost Imaging Using Artificial Neural Networks
2022 Viani, Lorenzo; Rosi, Paolo; Rotunno, Enzo; Frabboni, Stefano; Balboni, Roberto; Grillo, Vincenzo
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Challenging Point Scanning across Electron Microscopy and Optical Imaging using Computational Imaging | 1-gen-2022 | Kallepalli, Akhil; Viani, Lorenzo; Stellinga, Daan; Rotunno, Enzo; Bowman, Richard; Gibson, Graham M.; Sun, Ming-Jie; Rosi, Paolo; Frabboni, Stefano; Balboni, Roberto; Migliori, Andrea; Grillo, Vincenzo; Padgett, Miles J. | |
Enhancing Electron Computational Ghost Imaging Using Artificial Neural Networks | 1-gen-2022 | Viani, Lorenzo; Rosi, Paolo; Rotunno, Enzo; Frabboni, Stefano; Balboni, Roberto; Grillo, Vincenzo |