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Vacancy-gettering in silicon: Cavities and helium-implantation 1-gen-1999 Corni, Federico; Tonini, Rita; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Calzolari, G; Masetti, S; Tamarozzi, P; Pavia, G; Cerofolini, Gf
Lattice strain and static disorder determination in Si/Si1-xGex/Si heterostructures by convergent beam electron diffraction 1-gen-1999 Frabboni, Stefano; Gambetta, F; Armigliato, A; Balboni, R; Balboni, S; Cembali, F.
Strain determination in submicron isolation structures by TEM/CBED 1-gen-1999 Armigliato, A; Balboni, R; Balboni, S; Frabboni, Stefano; Tixier, A; Carnevale, Gp; Colpani, P; Pavia, G; Marmiroli, A.
Thermal desorption spectra from cavities in helium-implanted silicon 1-gen-2000 Cerofolini, Gf; Calzolari, G; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita
A novel Monte-Carlo based method for quantitative thin film X-ray microanalysis 1-gen-2000 Armigliato, A; Balboni, R; Frabboni, Stefano; Rosa, R.
Dynamical simulation of LACBED patterns in cross-sectioned heterostructures 1-gen-2000 Wu, F; Armigliato, A; Balboni, R; Frabboni, Stefano
Hydrogen and helium bubbles in silicon 1-gen-2000 G. F., Cerofolini; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita
Large angle convergent beam electron diffraction strain measurements in high dose helium implanted silicon 1-gen-2000 Gambetta, Francesca; Frabboni, Stefano; Tonini, Rita; Corni, Federico
TEM/CBED determination of strain in silicon-based submicrometric electronic devices 1-gen-2000 Armigliatoa, A; Balboni, R; Balboni, S; Frabboni, Stefano; Tixier, A; Carnevale, Gp; Colpani, P; Pavia, G; Marmiroli, A.
Strain characterisation of shallow trench isolation structures on a nanometer scale by convergent beam electron diffraction 1-gen-2001 Armigliato, A; Balboni, R; Frabboni, Stefano; Benedetti, A; Cullis, Ag; Carnevale, Gp; Colpani, P; Pavia, G.
Strain analysis in sub-micron silicon devices by TEM/CBED 1-gen-2001 Armigliato, A; Balboni, R; Frabboni, Stefano; Benedetti, A; Cullis, Ag; Pavia, G.
Strain characterisation at the nm scale of deep sub-micron devices by convergent-beam electron diffraction 1-gen-2002 Armigliato, A; Balboni, R; Benedetti, A; Carnevale, Gp; Cullis, Ag; Frabboni, Stefano; Piccolo, D.
LATTICE STRAIN AND STATIC DISORDER IN HYDROGEN IMPLANTED AND ANNEALED SINGLE CRYSTAL SILICON AS DETERMINED BY LARGE ANGLE CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION 1-gen-2002 Frabboni, Stefano
Strain Induced by Ti Salicidation in Sub-quarter-micron CMOS Devices, as Measured by TEM/CBED 1-gen-2002 Benedetti, A.; Cullis, A. G.; Armigliato, A.; Balboni, R.; Frabboni, Stefano; Mastracchio, G. F.; Pavia, G.
Strain analysis in submicron electron devices by convergent beam electron diffraction 1-gen-2002 A., Armigliato; R., Balboni; Frabboni, Stefano; A. BENEDETTI AND A. G., Cullis
Application of convergent beam electron diffraction to two-dimensional strain mapping in silicon devices 1-gen-2003 A., Armigliato; R., Balboni; Gp, Carnevale; G., Pavia; D., Piccolo; Frabboni, Stefano; A., Benedetti; Ag, Cullis
Combined HREM and theoretical analysis of SiC/Si interface 1-gen-2003 V., Grillo; Frabboni, Stefano; G., Cicero; G., Savini; AND A., Catellani
Techniques for mechanical strain analysis in sub-micrometer structures: TEM/CBED, micro-Raman spectroscopy, X-ray microdiffraction and modeling 1-gen-2003 I., De Wolf; V., Senez; R., Balboni; A., Armigliato; Frabboni, Stefano; A., Cedola; S., Lagomarsino
Strain determination in silicon microstructures by combined convergent beam electron diffraction, process simulation, and micro-Raman spectroscopy 1-gen-2003 V., Senez; A., Armigliato; I., De Wolf; G. P., Carnevale; R., Balboni; Frabboni, Stefano; A., Benedetti
Physical-Chemical Evolution of Hf-aluminates upon Thermal Treatments 1-gen-2003 B., Crivelli; M., Alessandri; S., Alberici; D., Brazzelli; A. C., Elbaz; Frabboni, Stefano; G., Ghidini; J. W., Maes; G., Ottaviani; G., Pavia; C., Wiemer
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