Strain analysis in submicron electron devices by convergent beam electron diffraction / A., A., R., B., Frabboni, S., A. Benedetti And A. G., C.. - STAMPA. - 588:(2002), pp. 82-90. (International Workshop on Nanoscale Spectroscopy and Its Applications to Semiconductor Research RIESTE, ITALY DEC 11-14, 2000).

Strain analysis in submicron electron devices by convergent beam electron diffraction

FRABBONI, Stefano;
2002
2002
International Workshop on Nanoscale Spectroscopy and Its Applications to Semiconductor Research
RIESTE, ITALY
DEC 11-14, 2000
WOS:000177342400008
588
82
90
A., Armigliato; R., Balboni; Frabboni, Stefano; A. Benedetti And A. G., Cullis
Strain analysis in submicron electron devices by convergent beam electron diffraction / A., A., R., B., Frabboni, S., A. Benedetti And A. G., C.. - STAMPA. - 588:(2002), pp. 82-90. (International Workshop on Nanoscale Spectroscopy and Its Applications to Semiconductor Research RIESTE, ITALY DEC 11-14, 2000).
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