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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A MEMS reconfigurable quad-band Class-E Power Amplifier for GSM standard 1-gen-2009 Larcher, Luca; Brama, Riccardo; Ganzerli, Marcello; J., Iannacci; M., Bedani; A., Gnudi
A MEMS Reconfigurable Quad-Band Class-E Power Amplifier for GSM Standard 1-gen-2009 Larcher, Luca; R., Brama; Ganzerli, Marcello; J., Iannacci; B., Margesin; M., Bedani; A., Gnudi
A Micro Fuel Cell Power Supply Module for Low Power Portable Applications 1-gen-2010 Bertacchini, Alessandro; Scorcioni, Stefano; Cori, Marco Maria; Larcher, Luca; Pavan, Paolo; J. P., Esquivel; N., Torres Herrero; N., Sabaté; J., Santander
A microscopic physical description of RTN current fluctuations in HfOx RRAM 1-gen-2015 Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo; Vandelli, Luca; Padovani, Andrea; Bertocchi, Matteo; Larcher, Luca
A model of radiation induced leakage current (RILC) in ultra-thin gate oxides 1-gen-1999 Larcher, Luca; A., Paccagnella; M., Ceschia; G., Ghidini
A multiscale modeling approach for the simulation of OxRRAM devices 1-gen-2017 Padovani, A.; Larcher, L.; Woo, J.; Hwang, H.
A New Analytical Model of Channel Hot Electron (CHE) and CHannel Initiated Secondary ELectron (CHISEL) Current Suitable for Compact Modeling 1-gen-2002 Larcher, Luca; Pavan, Paolo
A New Compact Model of Floating Gate Non-Volatile Memory Cells 1-gen-2001 Larcher, Luca; Pavan, Paolo; F., Gattel; L., Albani; A., Marmiroli
A new compact Spice-like model of E2PROM Memory cells suitable for DC and transient simulations 1-gen-2001 Larcher, Luca; Pavan, Paolo; Cuozzo, M.; Marmiroli, A.
A new method for extracting interface state and border trap densities in high-k/III-V MOSFETs 1-gen-2014 Sereni, Gabriele; Vandelli, ; L, .; Larcher, Luca; Morassi, ; L, .; Veksler, ; D, .; Bersuker,
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 178
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 174
  • Atti di CONVEGNO::Abstract in Att... 2
  • Atti di CONVEGNO::Poster 2
Autore
  • PADOVANI, ANDREA 93
  • PAVAN, Paolo 69
  • BERTACCHINI, Alessandro 28
  • VANDELLI, LUCA 22
  • PUGLISI, Francesco Maria 19
  • SCORCIONI, Stefano 14
  • DONDI, Denis 11
  • PIRROTTA, Onofrio 9
  • MAZZANTI, Andrea 6
  • MORASSI, LUCA 6
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 12
  • 2010 - 2019 117
  • 2000 - 2009 43
  • 1998 - 1999 6
Editore
  • IEEE 57
  • Institute of Electrical and Elect... 46
  • IEEE - Institute of Electrical a... 9
  • unknown 7
  • IEEE Computer Society 6
  • IEEE - Institute of Electrical an... 5
  • Unknown 3
  • Computational Publications 2
  • Editions Frontieres 2
  • NSTI 2
Rivista
  • ECS TRANSACTIONS 3
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 3
  • IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 2
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 1
  • IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON C... 1
Serie
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 23
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 12
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 5
  • PROCEEDINGS OF THE ANNUAL CONFERE... 2
  • PROCEEDINGS - DESIGN, AUTOMATION,... 1
  • PROCEEDINGS - IEEE INTERNATIONAL ... 1
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 1
Keyword
  • RRAM 19
  • reliability 8
  • Energy Harvesting 7
  • high-k 7
  • Flash memory 6
  • CMOS technology 5
  • Defects 5
  • device reliability 5
  • Electrical and Electronic Enginee... 5
  • Flash memories 5
Lingua
  • eng 177
Accesso al fulltext
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