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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Modeling strategies for flash memory devices 1-gen-2011 Padovani, Andrea; Larcher, Luca; Pavan, Paolo
Modeling the charge transport and degradation in HfO 2 dielectric for reliability improvement and life-time predictions in logic and memory devices 1-gen-2011 Padovani, Andrea; Larcher, Luca; Vandelli, Luca; Pirrotta, Onofrio; Pavan, Paolo
Modelling nanoscale n-MOSFETs with III-V compound semiconductor channels: From advanced models for band structures, electrostatics and transport to TCAD 1-gen-2017 Selmi, L.; Caruso, E.; Carapezzi, S.; Visciarelli, M.; Gnani, E.; Zagni, N.; Pavan, P.; Palestri, P.; Esseni, D.; Gnudi, A.; Reggiani, S.; Puglisi, F. M.; Verzellesi, G.
Monte-Carlo Simulations of Flash Memory Array Retention 1-gen-2007 Padovani, Andrea; Larcher, Luca; A., Chimenton; Pavan, Paolo
Multiscale modeling of defect-related phenomena in high-k based logic and memory devices 1-gen-2017 Padovani, Andrea; Larcher, Luca; Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo
Multiscale modeling of electron-ion interactions for engineering novel electronic device and materials 1-gen-2016 Larcher, Luca; Puglisi, Francesco Maria; Padovani, Andrea; Vandelli, Luca; Pavan, Paolo
Multiscale modeling of electron-ion interactions for engineering novel electronic devices and materials 1-gen-2016 Larcher, Luca; Puglisi, Francesco Maria; Padovani, Andrea; Vandelli, Luca; Pavan, Paolo
Negative base current, impact-ionization and light emission phenomena in AlGaAs/GaAs HBT's 1-gen-1992 E., Zanoni; R., Malik; J., Nagle; Pavan, Paolo; L., Vendrame; C., Canali
NROM™ - A new non-volatile memory technology: From device to products 1-gen-2001 I., Bloom; Pavan, Paolo; B., Eitan
On Carbon doping to improve GeTe-based Phase-Change Memory data retention at high temperature 1-gen-2010 G., Betti Beneventi; E., Gourvestzk; A., Fantini; L., Perniola; V., Sousa; S., Maitrejean; J. C., Bastien; A., Bastard; A., Fargeix; B., Hyot; C., Jahan; J. F., Nodin; A., Persico; D., Blachier; A., Toffoli; S., Loubriat; A., Roule; S., Lhostis; H., Feldis; G., Reimbold; T., Billon; B., De Salvo; Larcher, Luca; Pavan, Paolo; D., Bensahel; P., Mazoyer; R., Annunziata; F., Boulanger
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 141
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 141
Autore
  • LARCHER, Luca 69
  • PUGLISI, Francesco Maria 42
  • PADOVANI, ANDREA 36
  • BERTACCHINI, Alessandro 24
  • VERZELLESI, Giovanni 13
  • VANDELLI, LUCA 9
  • DONDI, Denis 8
  • SCORCIONI, Stefano 8
  • ZAGNI, NICOLO' 8
  • ZANOTTI, TOMMASO 8
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 59
  • 2000 - 2009 41
  • 1990 - 1999 24
Editore
  • IEEE 50
  • Institute of Electrical and Elect... 25
  • Editions Frontieres 7
  • IEEE Computer Society 7
  • IEEE - Institute of Electrical a... 3
  • IEEE - Institute of Electrical an... 3
  • ASM International 2
  • Computational Publications 2
  • NSTI 2
  • unknown 2
Rivista
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 2
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SO... 1
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 1
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 1
Serie
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 17
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 15
  • PROCEEDINGS OF THE ANNUAL CONFERE... 5
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 3
  • IEEE International Integrated Rel... 1
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • LECTURE NOTES OF THE INSTITUTE FO... 1
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 1
Keyword
  • RRAM 19
  • RTN 8
  • Compact Model 5
  • Defects 5
  • logistics 5
  • semiconductor device reliability 5
  • Electrical and Electronic Enginee... 4
  • Flash memories 4
  • Flash memory 4
  • HfO2 4
Lingua
  • eng 141
Accesso al fulltext
  • no fulltext 94
  • reserved 41
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  • open 1