ItalianoOTTAVIANI, Giampiero
Pubblicazioni
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | |
|---|---|---|---|
| 1 | A fast technique for the quantitative analysis of channeling RBS spectra | 1992 | Cerofolini, Gf; Corni, Federico; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita |
| 2 | A Problem for educational research: The updating of the curriculum | 1996 | Corni, Federico; Mazzega, Ezio; Ottaviani, Giampiero; Michelini, M; MICHELUTTI G., L; Santi, L. |
| 3 | A simple on-line system employed in diffraction experiments | 1993 | Corni, Federico; Mascellani, V; Mazzega, Ezio; Michelini, M; Ottaviani, Giampiero |
| 4 | Adsorption equilibria and kinetics of H2 at nearly ideal (2 x 1) Si(1 0 0) inner surfaces | 2010 | G. F., Cerofolini; E., Romano; D., Narducci; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita |
| 5 | AES Study of Room Temperature Oxygen Interaction with Near Noble Metal-Silicon Compounds Surface | 1985 | Valeri, Sergio; DEL PENNINO, Umberto; P., Lomellini; Ottaviani, Giampiero |
| 6 | Bandgap widening in quantum sieves | 1996 | Cerofolini, Gf; Meda, L; Bisero, D; Corni, Federico; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita |
| 7 | Capire la Time-Resolved Reflectivity: una tecnica di analisi basata sull’interferenza da lamina sottile | 1995 | Corni, Federico; Mazzega, Ezio; Michelini, Marisa; Ottaviani, Giampiero |
| 8 | Characterization of Bioacceptable Carbon Materials | 1990 | Magri, Rita; C., Mariani; Ottaviani, Giampiero |
| 9 | Copper–titanium thin film interaction | 2004 | L., Castoldi; G., Visalli; S., Morin; P., Ferrari; S., Alberici; Ottaviani, Giampiero; Corni, Federico; Tonini, Rita; Nobili, Carlo Emanuele; M., Bersani |
| 10 | Costruire i diagrammi di fase dai dati sperimentali: una proposta didattica | 2005 | Corni, Federico; Ottaviani, Giampiero; M., Michelini |
| 11 | Crystallization kinetics of boron- and germanium-implanted 〈100〉 Si: a balance between doping and strain effects | 1992 | Corni, Federico; Tonini, Rita; Ottaviani, Giampiero; Servidori, M; Priolo, F. |
| 12 | Damage evolution in helium-hydrogen co-implanted (100) silicon | 2002 | Tonini, Rita; Corni, Federico; Nobili, Carlo Emanuele; Ottaviani, Giampiero; Cazzaniga, F; Queirolo, G. |
| 13 | Dilute NiPt alloy interactions with Si | 1993 | Corni, Federico; Gregorio, Bg; Ottaviani, Giampiero; Queirolo, G; Follegot, Jp |
| 14 | DLTS and EPR study of defects in H implanted silicon | 2002 | V., Miksic; B., Pivac; B., Rakvin; H., Zorc; Corni, Federico; Tonini, Rita; Ottaviani, Giampiero |
| 15 | Electron paramagnetic resonance evidence for reversible transformation of thermal donor into shallow donor-type center in hydrogen-implanted silicon | 1998 | Rakvin, B; Pivac, B; Tonini, Rita; Corni, Federico; Ottaviani, Giampiero |
| 16 | Electron paramagnetic resonance study of S2 defects in Hydrogen implanted Silicon | 2000 | B., Rakvin; B., Pivac; Tonini, Rita; Corni, Federico; Ottaviani, Giampiero |
| 17 | Electronic properties of Silicon - transition metal interface compounds | 1985 | CALANDRA BUONAURA, Carlo; Bisi, Olmes; Ottaviani, Giampiero |
| 18 | EPR study of He-implanted Si | 2000 | Pivac, B; Rakvin, B; Tonini, Rita; Corni, Federico; Ottaviani, Giampiero |
| 19 | Evidence for H-2 at high pressure in the silicon nanocavities after dipping in HF solution | 2009 | Romano, E.; Cerofolini, G. F.; Narducci, D.; Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita |
| 20 | EVIDENCE FOR MOLECULAR-HYDROGEN IN SINGLE-CRYSTAL SILICON | 1991 | Meda, L; Cerofolini, Gf; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita; Corni, Federico; Balboni, R; Anderle, M; Canteri, R; Dierckx, R. |
Dettaglio
OTTAVIANI, Giampiero
EX-Dip. FISICA-(1900/2012)
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